HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置 直流大電流發(fā)生器HNDL 便攜式大電流發(fā)生器 容量大 5年保修
利用計算機控制技術(shù)和現(xiàn)代電力電子技術(shù)研究設(shè)計的一種大電流低電壓直生裝置，主要用于直流開關(guān)的檢測試驗，如直流開關(guān)大電流脫扣定值的校驗、分流器及隔離放大器特性測試、開關(guān)動作時間測試等，并自動記錄測試的有關(guān)數(shù)據(jù)。100mA到1A是當前大多數(shù)產(chǎn)品的電流范圍，特別是目前350mA(或者更確切地說，光電半導體結(jié)的電流密度為350mA/mm2)是熱管理和照明效率間常采納的折衷方案?？刂芁ED驅(qū)動器的積體電路是矽基的，所以在1.25V的范圍內(nèi)有一個典型的帶隙。要在1.25V處達到1%的容差，亦即需要±12.5mV的電壓范圍。這并不難實現(xiàn)，能達到這種容差或更好容差范圍的低價電壓參考電路或電源控制IC種類繁多，價格低廉。

應(yīng)用：

    HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置是專門設(shè)計用于對地鐵及輕軌用DC1500V、DC750V直流開關(guān)及其隔離放大器、保護裝置進行功能試驗的設(shè)備，通過模擬輸出故障電流或過負荷電流，測試直流開關(guān)的大電流脫扣特性或過熱跳閘特性及延時特性，測試隔離放大器特性和保護裝置特性。開關(guān)電源已經(jīng)深入到國民經(jīng)濟的各個行業(yè)當中，設(shè)計師或是自行設(shè)計電源或是購買電源模塊，但是這些電源都離不開電源的電路拓撲。本文先介紹了開關(guān)電源的三大基礎(chǔ)拓撲：Buck、Boost、Buck-Boost，并就這三者拓撲之間進行了簡單地組合，得到了非常巧妙的電路，：正負輸出電源、雙向電源等，能夠滿足諸如運放供電、電池充放電等某些的需求。開關(guān)電源基礎(chǔ)拓撲開關(guān)電源三大基礎(chǔ)拓撲為：Buck、Boost、Buck-Boost，大部分開關(guān)電源都是采用這幾種基礎(chǔ)拓撲或者其對應(yīng)的隔離方式，下面以電感連續(xù)模式進行簡單介紹。

特點：

智能化及圖形顯示：HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置由嵌入式微機系統(tǒng)控制，輸出電流的波形、幅值可通過人機界面準確控制。輸出電流在顯示器上以圖形方式顯示，可方便計算、顯示直流開關(guān)的動作時間，并能存儲、打印測量結(jié)果。

多種輸出波形選擇：理論上輸出波形可有任意多種。本試驗裝置標準波形配置為常用的指數(shù)曲線，該曲線的幅值、時間常數(shù)可設(shè)定。

輸出準確：按預(yù)先設(shè)定的波形參數(shù)輸出，綜合誤差只有2%。當選取的諧振回路器件滿足振蕩器起振條件時振蕩器開始工作，VCO內(nèi)的有源器件等效構(gòu)成的負電阻部分所提供的能量能夠滿足諧振回路所消耗的能量則振蕩電路的振蕩條件能夠得以維持，VCO能夠正常工作。然而，VCO實際的工作狀態(tài)絕非理想狀態(tài)，并不是設(shè)計時所假定的終端連接理想的50歐姆負載，因此其終端負載條件的變化會導致VCO出現(xiàn)輸出振蕩頻率發(fā)生變化的非線性現(xiàn)象，這就是頻率牽引，其表征參數(shù)為頻率牽引系數(shù)。從可以看出，從VCO輸出看去的阻抗變化會引起VCO的有源器件結(jié)上直流電壓的變化，也就是說，VCO輸出反射回來的信號功率能引起晶體管漏電流和偏置點的波動，導致該雙極型晶體管集電極與基極之間的電壓（Vcb）發(fā)生變化，影響集電極與基極之間的電容（Ccb），從而通過影響整個回路的諧振狀態(tài)和條件導致振蕩頻率和相位噪聲的改變。

測量及計時精度高：輸出電流、開關(guān)接點動作狀態(tài)通過測量回路測量并以圖形方式在顯示器上顯示，準確計算有關(guān)參數(shù)，電流測量精度為2%，時間測量精度為1mS

保護電路完善：HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置有完善的保護電路,如過流速斷保護、過流超時保護等。

接線方便：HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置通過隨裝置提供的電纜與被試開關(guān)主觸頭端子相連，注意不得隨意采用其它電纜。

模塊化設(shè)計：HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置采用模塊化設(shè)計，特別是2號柜的降壓整流輸出單元，每一個模塊的輸出電流為5000A，方便維護和使用。根據(jù)用戶需要，可定制10000A、15000A、20000A、30000A、40000A等規(guī)格的直流開關(guān)試驗裝置（HNDL10KA 、HNDL20KA 30KA、 HNDL40KA）有光照的電池所產(chǎn)生的部分能量或所有的能量，都可能被"熱斑"的電池所消耗?！岸玖觥钡耐τ卸啻?？這顆毒瘤會對太陽能電池會造成很嚴重地破壞作用，會嚴重的破壞太陽電池組件或系統(tǒng)，所以需要對太陽電池組件進行熱斑檢測，使相對發(fā)熱均勻的電池片進行組合或維護，以避免組件所產(chǎn)生的能量被熱斑的組件所消耗，同時避免由于熱斑可能給太陽能組件或系統(tǒng)的壽命帶來的威脅，所以需要用到一款專業(yè)的工具來檢測這顆"毒瘤"，然后將其消滅。