HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗系統(tǒng) 三回路配電箱溫升測試儀HNDL JP柜溫升試驗設備 容量大 5年保修 

聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059用于箱變,配電箱額定電流溫升試驗。溫升試驗裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗標準對開關(guān)柜進行試驗的要求。在沒有火出現(xiàn)的場景中，紅外熱像儀將在高靈敏度模式下操作，顯示熱環(huán)境的細節(jié)。就FLIRK系列紅外熱像儀而言，高靈敏度模式能夠測量高達+15°C的溫度。如果發(fā)生火災，熱像儀將會切換到低靈敏度模式，該模式可實現(xiàn)較低靈敏度（較少細節(jié)）和較高表面溫度監(jiān)測能力之間的平衡。就FLIRK系列紅外熱像儀而言，低靈敏度模式能夠測量高達+65°C的溫度。測量更高溫度，即超過+65°C，意味著轉(zhuǎn)換到更低靈敏度模式（所謂的增益模式），在此模式下，能測量更高溫度，但是須以犧牲圖像細節(jié)和對比度為代價，導致不可接受的圖像質(zhì)量損失。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC范圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負載被試開關(guān)柜及相關(guān)標準規(guī)定的試驗附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時間應滿足工作時間要求）

輸出波形：標準正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時間：大電流輸出不少于24小時

輸出相數(shù)：三相  多路

只要一個簡單的內(nèi)部AND或者OR門控就足以避免使用外部組件，或是改善CPU性能。所有四種方法都支持用定制邏輯門控輸入和輸出信號。這類方法可借助時鐘門控輸入，以便使用計數(shù)器測量外部時鐘頻率。這四類邏輯模塊均支持的一個簡單例子是一種調(diào)制UART輸出，使之用于IR通信的方法。在此例中，不僅有所示的內(nèi)部AND門控，還能夠?qū)碜詴r鐘或計數(shù)器的信號及UARTTX輸出路由到AND門控。簡單調(diào)制的UART[pagebreak]AtmelXMEGA定制邏輯（XCL）AtmelXCL模塊內(nèi)置兩個LUT（查找表）模塊，配套兩個8位定時器/計數(shù)器模塊。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）