HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗系統(tǒng) 配電箱多回路溫升試驗設(shè)備HNDL 三相大電流試驗裝置 容量大 5年保修 

聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059用于箱變,配電箱額定電流溫升試驗。溫升試驗裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗標準對開關(guān)柜進行試驗的要求。EMC設(shè)計系統(tǒng)主站和從站電路板的設(shè)計對系統(tǒng)的EMC至關(guān)重要,而一個電路板的電磁輻射能力和接收能力往往是一致的。在提高電路板抗干擾能力的同時，也了電路板的電磁輻射。PCB板的EMC設(shè)計主要因素有以下幾點：元器件選擇和布局選擇EMC性能好的元器件，并盡量選擇表面貼裝的封裝形式。器件合理布局，把相互有關(guān)的器件盡量放得靠近些，使各部件之間的引線盡量短。特別是微控制器和CAN控制器的時鐘源晶體一定按規(guī)定放置，否則會不起振。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC范圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負載被試開關(guān)柜及相關(guān)標準規(guī)定的試驗附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時間應(yīng)滿足工作時間要求）

輸出波形：標準正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時間：大電流輸出不少于24小時

輸出相數(shù)：三相  多路

另外一種常見于ARM芯片，我們知道ARM芯片采用統(tǒng)一的編程接口SWD接口，某些ARM芯片會提供兩個AP(AccessPort)，通過關(guān)閉訪問內(nèi)部空間的AP可以達到加密的目的。而如果想解鎖，就要訪問另一條AP，這條AP只可以訪問一個寄存器，通過寫入該寄存器特定的數(shù)據(jù)就可以將芯片重置為默認狀態(tài)。還有一種加密方式和上面類似，只不過采用了兩個編程接口，而不是同一編程接口的兩條AP?？傊用芫褪亲屇銦o法讀取芯片數(shù)據(jù)，而又可以通過擦除再次升級固件。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）

配電箱多回路溫升試驗設(shè)備HNDL 三相大電流試驗裝置 容量大 5年保修一直以來，設(shè)計中的電磁干擾（EMI）問題十分令人頭疼，尤其是在汽車領(lǐng)域。為了盡可能的減小電磁干擾，設(shè)計人員通常會在設(shè)計原理圖和繪制布局時，通過降低高di/dt的環(huán)路面積以及開關(guān)轉(zhuǎn)換速率來減小噪聲源。有時無論布局和原理圖的設(shè)計多么謹慎，仍然無法將傳導(dǎo)EMI降低到所需的水平。這是因為噪聲不僅取決于電路寄生參數(shù)，還與電流強度有關(guān)。另外，開關(guān)打開和關(guān)閉的動作會產(chǎn)生不連續(xù)的電流，這些不連續(xù)電流會在輸入電容上產(chǎn)生電壓紋波，從而增加EMI。