HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng) 配電箱多回路溫升測(cè)試儀HNDL 三相大電流發(fā)生器 容量大 定制定做 

聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059用于箱變,配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開關(guān)柜進(jìn)行試驗(yàn)的要求。為了同時(shí)實(shí)現(xiàn)多通道和高速采集，橫河SMARTDAC+系列采集器采用了各模塊立A/D的硬件設(shè)計(jì)，各模塊間的數(shù)據(jù)采集并行處理，而主機(jī)CPU負(fù)責(zé)所有通道的數(shù)據(jù)保存和上位通信，從而可以保證5ms*1ch的系統(tǒng)性能。靈活的信號(hào)輸入在研究和設(shè)計(jì)開發(fā)領(lǐng)域使用的記錄儀，需要根據(jù)實(shí)驗(yàn)?zāi)康挠涗洀膫鞲衅骰蛘邚碾妷?電流源得到的信號(hào)。因此需要對(duì)應(yīng)溫度傳感器和電壓量程。可拆卸端子另外，多點(diǎn)測(cè)試有大量接線的工作，為了提高接線的作業(yè)效率，可以選擇端子可拆卸的產(chǎn)品。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC范圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負(fù)載被試開關(guān)柜及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求）

輸出波形：標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間：大電流輸出不少于24小時(shí)

輸出相數(shù)：三相  多路

可控硅檢測(cè)方案電控系統(tǒng)長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行后，電發(fā)動(dòng)機(jī)會(huì)出現(xiàn)跳閘等故障?；诖?，對(duì)可控硅性能好壞進(jìn)行檢測(cè)，對(duì)于系統(tǒng)的日常維護(hù)、保證正常運(yùn)轉(zhuǎn)具有十分重要的意義。通常對(duì)電氣設(shè)備的檢測(cè)設(shè)備及方法有萬用表、漏電儀、搖表，另外，還可以利用示波器觀測(cè)導(dǎo)通電流以判斷可控硅導(dǎo)通情況。在實(shí)際生產(chǎn)中，僅采用萬用表無法判斷可控硅的故障。下面對(duì)幾種檢測(cè)方法進(jìn)行對(duì)比，以得出可控硅檢測(cè)的方法。漏電儀檢測(cè)法（耐壓試驗(yàn)）采用大電流發(fā)生器（簡(jiǎn)稱升流器）對(duì)可控硅K兩極之間進(jìn)行漏電試驗(yàn)。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）

配電箱多回路溫升測(cè)試儀HNDL 三相大電流發(fā)生器 容量大 定制定做曼徹斯特編碼的優(yōu)點(diǎn)是每個(gè)位都有一個(gè)信號(hào)邊沿用來實(shí)現(xiàn)位同步（Self-clockingcode）。但是曼徹斯特編碼和非歸零編碼相比，在相同的位時(shí)間（位頻率）時(shí)，位速率只能達(dá)到非歸零碼一半。由于非歸零編碼的信號(hào)電平可長(zhǎng)時(shí)間保持不變（取決于所傳輸?shù)臄?shù)據(jù)），因此有必要采取適當(dāng)?shù)拇胧┮源_保不超過兩個(gè)信號(hào)沿之間允許的時(shí)間間隔。重新同步點(diǎn)之間的時(shí)間間隔由節(jié)點(diǎn)振蕩器的誤差決定。重新同步可通過應(yīng)用“位填充”的方法實(shí)現(xiàn)。