HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng) 配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng)HNDL 配電箱溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 5年保修 

聯(lián)系人車(chē)高平13608980122/15689901059用于箱變,配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿(mǎn)足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開(kāi)關(guān)柜進(jìn)行試驗(yàn)的要求?？梢哉f(shuō)是一種小的動(dòng)物通過(guò)簡(jiǎn)捷的方式實(shí)現(xiàn)“無(wú)線”的溝通。人們借此稱(chēng)呼一種專(zhuān)注于低功耗、低成本、低復(fù)雜度、低速率的近程無(wú)線網(wǎng)絡(luò)通信技術(shù)，亦包含此寓意。它是基于IEEE802.15.4協(xié)議發(fā)展起來(lái)的一種短距離無(wú)線通信技術(shù)，功耗低，被業(yè)界認(rèn)為是有可能應(yīng)用在工控場(chǎng)合的無(wú)線方式。Zigbee是一個(gè)由可多到65000個(gè)無(wú)線數(shù)傳模塊組成的一個(gè)無(wú)線數(shù)傳網(wǎng)絡(luò)平臺(tái)，在整個(gè)網(wǎng)絡(luò)范圍內(nèi)，每一個(gè)Zigbee網(wǎng)絡(luò)數(shù)傳模塊之間可以相互通信，每個(gè)網(wǎng)絡(luò)節(jié)點(diǎn)間的距離可以從標(biāo)準(zhǔn)的75m無(wú)限擴(kuò)展。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC范圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負(fù)載被試開(kāi)關(guān)柜及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿(mǎn)足工作時(shí)間要求）

輸出波形：標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間：大電流輸出不少于24小時(shí)

輸出相數(shù)：三相  多路

環(huán)境試驗(yàn)一般只對(duì)小部分產(chǎn)品進(jìn)行，常見(jiàn)的環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容和方法如下：溫度試驗(yàn)用以檢查溫度環(huán)境對(duì)儀器儀表的影響，確定儀器儀表在高溫和低溫條件下工作和儲(chǔ)存的適應(yīng)性，它包括高溫和低溫負(fù)荷試驗(yàn)、高溫和低溫儲(chǔ)存試驗(yàn)。高溫試驗(yàn)用以檢查高溫環(huán)境對(duì)儀器儀表的影響，確定儀器儀表在高溫條件下工作和儲(chǔ)存的適應(yīng)性。它包括高溫負(fù)荷試驗(yàn)和高溫儲(chǔ)存試驗(yàn)。低溫試驗(yàn)用以檢查低溫環(huán)境對(duì)儀器儀表的影響，確定儀器儀表在高溫條件下工作和儲(chǔ)存的適應(yīng)性。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶(hù)具體需求配置）

配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng)HNDL 配電箱溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 5年保修數(shù)字子系統(tǒng)架構(gòu)從以往的設(shè)計(jì)來(lái)講，數(shù)字子系統(tǒng)的引腳電子設(shè)備依賴(lài)于定制設(shè)計(jì)—離散設(shè)計(jì)，混合設(shè)備和完全定制設(shè)計(jì)。然而，今天有商業(yè)供應(yīng)商為半導(dǎo)體和板級(jí)測(cè)試應(yīng)用生產(chǎn)一系列針式電子產(chǎn)品，提供高水平的集成和通道密度。這些器件是實(shí)現(xiàn)更高通道密度的關(guān)鍵因素，同時(shí)也帶來(lái)了管理功耗和功耗的持續(xù)挑戰(zhàn)。今天的數(shù)字子系統(tǒng)多基于開(kāi)放式架構(gòu)，卡模塊化平臺(tái)，如VXI和PXI標(biāo)準(zhǔn)，PXI是主導(dǎo)平臺(tái)。為了適應(yīng)與支持M-A應(yīng)用相關(guān)的許多必要特性和功能，PXI的6U外形在標(biāo)準(zhǔn)PXI電源之外提供了額外的PCB空間和靈活性，可以使用額外的電源。