HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng) JP柜多回路溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 交流溫升試驗(yàn)裝置 容量大 5年保修 

聯(lián)系人車(chē)高平13608980122/15689901059用于箱變,配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開(kāi)關(guān)柜進(jìn)行試驗(yàn)的要求。利用RFID技術(shù)的無(wú)源傳感器標(biāo)簽功能元件芯片和傳感器標(biāo)簽幸運(yùn)的是，有多種集成度更高的無(wú)源感測(cè)和優(yōu)化選擇。其中有RF430FRL152H，它集成了實(shí)現(xiàn)圖1所示功能所需的所有電路，包括用于連接到模擬傳感器的14位三角積分AD以及可用于連接數(shù)字傳感器的SPI/I2C端口。RF430FRL15xH帶有通過(guò)鐵電RAM(FRAM)實(shí)現(xiàn)的2KB非易失性存儲(chǔ)器，實(shí)現(xiàn)了低功耗、快速讀寫(xiě)速度、無(wú)限次讀/寫(xiě)耐久性和高電磁抗擾度綜合優(yōu)勢(shì)。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC范圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負(fù)載被試開(kāi)關(guān)柜及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求）

輸出波形：標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間：大電流輸出不少于24小時(shí)

輸出相數(shù)：三相  多路

去耦電容還可以為器件提供局部化的DC電壓源，它在減少跨板浪涌電流方面特別有用。旁路：從元件或電纜中轉(zhuǎn)移出不想要的共模RF能量。這主要是通過(guò)產(chǎn)生AC旁路消除無(wú)意的能量進(jìn)入敏感的部分，另外還可以提供基帶濾波功能(帶寬受限)。我們經(jīng)?？梢钥吹剑陔娫春偷刂g連接著去耦電容，它有三個(gè)方面的作用：一是作為本集成電路的蓄能電容;二是濾除該器件產(chǎn)生的高頻噪聲，切斷其通過(guò)供電回路進(jìn)行傳播的通路;三是防止電源攜帶的噪聲對(duì)電路構(gòu)成干擾。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）

JP柜多回路溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 交流溫升試驗(yàn)裝置 容量大 5年保修由的基本結(jié)構(gòu)可知，是不可能被看為一個(gè)透明的設(shè)備，一定會(huì)有很多性能上的限制，比如電纜和補(bǔ)償設(shè)備決定了的帶寬，又比如中的器件尺寸也決定了的輸入電壓。所以會(huì)有一些基本的參數(shù)。在此歸納一下：衰減系數(shù)衰減系數(shù)，是所有都會(huì)有的一個(gè)參數(shù)，指的是使信號(hào)幅度下降的程度。某些可能會(huì)有可選擇的衰減系數(shù)。典型的衰減系數(shù)有1×、10×和100×。1×表示不會(huì)對(duì)信號(hào)進(jìn)行衰減。10×則表示信號(hào)會(huì)被衰減10倍再輸入示波器。