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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:三回路JP柜溫升試驗(yàn)系統(tǒng)HNDL 直流溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡(jiǎn)單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗(yàn),電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用于開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。三回路JP柜溫升試驗(yàn)系統(tǒng)HNDL 直流溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)
詳情介紹:

HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng) 三回路JP柜溫升試驗(yàn)系統(tǒng)HNDL 直流溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn) 

三回路JP柜溫升試驗(yàn)系統(tǒng)HNDL 直流溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)
聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059用于箱變
,
配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開關(guān)柜進(jìn)行試驗(yàn)的要求。CPU、IC和風(fēng)扇用電量很大,而且是動(dòng)態(tài)耗電的,瞬時(shí)電流可能很大,也可能很小,但是電壓必須平穩(wěn)(即紋波和噪聲必須較小),以保持CPU和IC的正常工作。這都對(duì)電源的平穩(wěn)性提出了很高的要求。所有的數(shù)字示波器都使用衰減器和放大器來調(diào)整垂直量程。設(shè)置衰減以后示波器本身的噪聲會(huì)被放大。測(cè)量噪聲時(shí)應(yīng)盡可能使用示波器靈敏的量程檔。但是示波器在靈敏檔下通常不具有足夠的偏置范圍可以把被測(cè)直流電壓拉到示波器屏幕中心范圍進(jìn)行測(cè)試,因此通常需要利用示波器的AC耦合功能把直流成分濾掉只測(cè)量AC成分。

三回路JP柜溫升試驗(yàn)系統(tǒng)HNDL 直流溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流:AC范圍 0到額定電流,連續(xù)可調(diào), 且該輸出電流為真有效值(指負(fù)載被試開關(guān)柜及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件, 可輸出的電流有效值, 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求)

輸出波形:標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率: 50Hz (+5%, -2%)

輸出電壓:0-6V,且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間:大電流輸出不少于24小時(shí)

輸出相數(shù):三相  多路

即使是今天日本的產(chǎn)品依舊具有“輕薄短小”的特點(diǎn),很多產(chǎn)品依舊很。一些粗糙、不精致的產(chǎn)品也隨處可見。是產(chǎn)的,可以實(shí)際用作通過通話和通信,其大小約是3個(gè)100的日元硬幣,幾乎小到難以使用。就這在樣小巧的產(chǎn)品中卻安裝了用于通信的芯片、雖簡(jiǎn)易卻具備可以進(jìn)行簡(jiǎn)單的運(yùn)行程序的處理器,雖然不能用于主要用途(MainUse),但是可以用于緊急情況(Emergency)下使用。正在竭盡全力開發(fā)“輕薄短小”的產(chǎn)品像以上這樣的智能正誕生在。三回路JP柜溫升試驗(yàn)系統(tǒng)HNDL 直流溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)


1.3 恒流源配置列表:(按照客戶具體需求配置)

序號(hào)

名稱

數(shù)量

1

3回路三相0-100A電流調(diào)節(jié)器

1

2

3回路三相0-400A電流調(diào)節(jié)器

1

3

3回路三相0-630A電流調(diào)節(jié)器

1

4

3回路三相0-800A電流調(diào)節(jié)器

1

三回路JP柜溫升試驗(yàn)系統(tǒng)HNDL 直流溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)常用α-三氧化二鋁(Al2O3)或煅燒過的氧化鎂(MgO)或石英砂作參比物。如試樣為金屬,也可以用金屬鎳粉作參比物。如果試樣與參比物的熱性質(zhì)相差很遠(yuǎn),則可用稀釋試樣的方法解決,主要是減少反應(yīng)劇烈程度;如果試樣加熱過程中有氣體產(chǎn)生時(shí),可以減少氣體大量出現(xiàn),以免使試樣沖出。選擇的稀釋劑不能與試樣有任何化學(xué)反應(yīng)或催化反應(yīng),常用的稀釋劑有Si鐵粉、Fe2O玻璃珠Al2O等。紙速的選擇在相同的實(shí)驗(yàn)條件下,同一試樣如走紙速度快,峰的面積大,但峰的形狀平坦,誤差?。蛔呒埶俾市?,峰面積小。三回路JP柜溫升試驗(yàn)系統(tǒng)HNDL 直流溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)


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