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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:配電箱多回路溫升試驗(yàn)系統(tǒng)HNDL 直流開(kāi)關(guān)試驗(yàn)電源 容量大 5年保修

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡(jiǎn)單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗(yàn),電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用于開(kāi)關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。配電箱多回路溫升試驗(yàn)系統(tǒng)HNDL 直流開(kāi)關(guān)試驗(yàn)電源 容量大 5年保修
詳情介紹:

HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng) 配電箱多回路溫升試驗(yàn)系統(tǒng)HNDL 直流開(kāi)關(guān)試驗(yàn)電源 容量大 5年保修 

配電箱多回路溫升試驗(yàn)系統(tǒng)HNDL 直流開(kāi)關(guān)試驗(yàn)電源 容量大 5年保修
聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059用于箱變
,
配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開(kāi)關(guān)柜進(jìn)行試驗(yàn)的要求。I2C總線是一種由PHILIPS公司開(kāi)發(fā)的兩線式串行總線,用于連接微控制器及其外圍設(shè)備。I2C總線產(chǎn)生于在80年代,初為音頻和設(shè)備開(kāi)發(fā),如今主要在服務(wù)器管理中使用,其中包括單個(gè)組件狀態(tài)的通信可隨時(shí)監(jiān)控內(nèi)存、硬盤(pán)、網(wǎng)絡(luò)、系統(tǒng)溫度等多個(gè)參數(shù),增加了系統(tǒng)的**性,方便了管理。I2C總線特點(diǎn)I2C總線主要的優(yōu)點(diǎn)是其簡(jiǎn)單性和有效性。由于接口直接在組件之上,因此I2C總線占用的空間非常小,減少了電路板的空間和芯片管腳的數(shù)量,降低了互聯(lián)成本。

配電箱多回路溫升試驗(yàn)系統(tǒng)HNDL 直流開(kāi)關(guān)試驗(yàn)電源 容量大 5年保修1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流:AC范圍 0到額定電流,連續(xù)可調(diào), 且該輸出電流為真有效值(指負(fù)載被試開(kāi)關(guān)柜及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件, 可輸出的電流有效值, 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求)

輸出波形:標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率: 50Hz (+5%, -2%)

輸出電壓:0-6V,且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間:大電流輸出不少于24小時(shí)

輸出相數(shù):三相  多路

ES31E接地電阻土壤電阻率測(cè)試儀(簡(jiǎn)易型)可以使用4線法測(cè)量接地電阻、土壤電阻率、接地電壓測(cè)量等功能。接地電阻量程可達(dá):.Ω~3.KΩ,土壤電阻率量程可達(dá):.ΩM~9999KΩM,電壓量程:~6V,每棟房屋,每臺(tái)設(shè)備在安裝完后,都需要檢測(cè)是否合格,其它一個(gè)參考標(biāo)準(zhǔn)就是接地電阻值,下個(gè)我們用精密四線法測(cè)量其接地電阻值。如上圖所示:ES31E標(biāo)準(zhǔn)配件有:儀表1臺(tái),儀表箱1個(gè),輔助接地棒4根,測(cè)試線4條,簡(jiǎn)易測(cè)試線2條,1.5V電池6節(jié),用戶手冊(cè)保用證1份。配電箱多回路溫升試驗(yàn)系統(tǒng)HNDL 直流開(kāi)關(guān)試驗(yàn)電源 容量大 5年保修


1.3 恒流源配置列表:(按照客戶具體需求配置)

序號(hào)

名稱

數(shù)量

1

3回路三相0-100A電流調(diào)節(jié)器

1

2

3回路三相0-400A電流調(diào)節(jié)器

1

3

3回路三相0-630A電流調(diào)節(jié)器

1

4

3回路三相0-800A電流調(diào)節(jié)器

1

配電箱多回路溫升試驗(yàn)系統(tǒng)HNDL 直流開(kāi)關(guān)試驗(yàn)電源 容量大 5年保修另外一種常見(jiàn)于ARM芯片,我們知道ARM芯片采用統(tǒng)一的編程接口SWD接口,某些ARM芯片會(huì)提供兩個(gè)AP(AccessPort),通過(guò)關(guān)閉訪問(wèn)內(nèi)部空間的AP可以達(dá)到加密的目的。而如果想解鎖,就要訪問(wèn)另一條AP,這條AP只可以訪問(wèn)一個(gè)寄存器,通過(guò)寫(xiě)入該寄存器特定的數(shù)據(jù)就可以將芯片重置為默認(rèn)狀態(tài)。還有一種加密方式和上面類似,只不過(guò)采用了兩個(gè)編程接口,而不是同一編程接口的兩條AP??傊?,加密就是讓你無(wú)法讀取芯片數(shù)據(jù),而又可以通過(guò)擦除再次升級(jí)固件。配電箱多回路溫升試驗(yàn)系統(tǒng)HNDL 直流開(kāi)關(guān)試驗(yàn)電源 容量大 5年保修


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