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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:配電箱大電流電源HNDL 直流溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗(yàn),電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用于開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。配電箱大電流電源HNDL 直流溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)
詳情介紹:

HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng) 配電箱大電流電源HNDL 直流溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn) 

配電箱大電流電源HNDL 直流溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)
聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059用于箱變
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配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開關(guān)柜進(jìn)行試驗(yàn)的要求。很多人似懂非懂,卻無從下手。如何使用示波器設(shè)置或數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)功能,對(duì)所測的數(shù)據(jù)進(jìn)行二次存儲(chǔ),由此上演了猶抱琵琶半遮面的經(jīng)典橋段。接下來讓我們來揭開它神秘的面紗,讓你從此保存文件不再是難題。示波器的存儲(chǔ)字面上理解也就是將所需的波形信息以不同的格式存儲(chǔ)下來便于我們做更深入的,存儲(chǔ)有以下幾個(gè)方面的內(nèi)容:存儲(chǔ)的類型:有設(shè)置文件、二進(jìn)制數(shù)據(jù)、CSV數(shù)據(jù)、圖像格式(BMP圖像、JPG圖像、PNG圖像、灰度圖像);存儲(chǔ)方式:PrintScreen(一鍵存儲(chǔ))、Se/Recall(存儲(chǔ))、PC聯(lián)機(jī)截圖、以及ScopeReportTM;存儲(chǔ)路徑:本地閃存和外部存儲(chǔ)器(將U盤接入示波器USB口即可)。

配電箱大電流電源HNDL 直流溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流:AC范圍 0到額定電流,連續(xù)可調(diào), 且該輸出電流為真有效值(指負(fù)載被試開關(guān)柜及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件, 可輸出的電流有效值, 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求)

輸出波形:標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率: 50Hz (+5%, -2%)

輸出電壓:0-6V,且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間:大電流輸出不少于24小時(shí)

輸出相數(shù):三相  多路

古跡的損壞,是不可逆的。近年來,紅外熱成像儀由于其非接觸式無損檢測、清晰成像的特點(diǎn),受到了保護(hù)部門的青睞,成為檢測的主要儀器之一。挑戰(zhàn)不可移動(dòng)、古建筑物、人類生活遺址,既沒有穩(wěn)定的溫濕度環(huán)境,又受到自然條件的影響和人為破壞的威脅。這樣的古跡,往往破壞嚴(yán)重且成因復(fù)雜,需要大規(guī)模的檢測和修復(fù)。對(duì)管理單位來說,十分具有挑戰(zhàn)性。德圖收到某管理單位的要求,前往某洞窟現(xiàn)場指導(dǎo)使用熱像儀對(duì)石像進(jìn)行檢測。配電箱大電流電源HNDL 直流溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)


1.3 恒流源配置列表:(按照客戶具體需求配置)

序號(hào)

名稱

數(shù)量

1

3回路三相0-100A電流調(diào)節(jié)器

1

2

3回路三相0-400A電流調(diào)節(jié)器

1

3

3回路三相0-630A電流調(diào)節(jié)器

1

4

3回路三相0-800A電流調(diào)節(jié)器

1

配電箱大電流電源HNDL 直流溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)PID(PotentianInducedDegradation)是一種電勢誘導(dǎo)衰減現(xiàn)象,是指組件長期在高電壓下使得玻璃,封裝材料之間存在漏電流,大量電荷聚集在電池表面。使得電池表面的鈍化效果惡化,導(dǎo)致填充因子(FF),短路電流(Isc),開路電壓(Voc)降低,使得組件的性能低于設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn),發(fā)電能力也隨之下降。2010年,NREL和Solon證實(shí)了無論組件采取何種技術(shù)的P型晶硅電池,組件在負(fù)偏壓下都有PID的風(fēng)險(xiǎn)。配電箱大電流電源HNDL 直流溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)


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