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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:JP柜大電流發(fā)生器HNDL 便攜式大電流發(fā)生器 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡(jiǎn)單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗(yàn),電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用于開(kāi)關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。JP柜大電流發(fā)生器HNDL 便攜式大電流發(fā)生器 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)
詳情介紹:

HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng) JP柜大電流發(fā)生器HNDL 便攜式大電流發(fā)生器 容量大 30年經(jīng)驗(yàn) 

JP柜大電流發(fā)生器HNDL 便攜式大電流發(fā)生器 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)
聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059用于箱變
,
配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開(kāi)關(guān)柜進(jìn)行試驗(yàn)的要求。100mA到1A是當(dāng)前大多數(shù)產(chǎn)品的電流范圍,特別是目前350mA(或者更確切地說(shuō),光電半導(dǎo)體結(jié)的電流密度為350mA/mm2)是熱管理和照明效率間常采納的折衷方案??刂芁ED驅(qū)動(dòng)器的積體電路是矽基的,所以在1.25V的范圍內(nèi)有一個(gè)典型的帶隙。要在1.25V處達(dá)到1%的容差,亦即需要±12.5mV的電壓范圍。這并不難實(shí)現(xiàn),能達(dá)到這種容差或更好容差范圍的低價(jià)電壓參考電路或電源控制IC種類繁多,價(jià)格低廉。

JP柜大電流發(fā)生器HNDL 便攜式大電流發(fā)生器 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流:AC范圍 0到額定電流,連續(xù)可調(diào), 且該輸出電流為真有效值(指負(fù)載被試開(kāi)關(guān)柜及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件, 可輸出的電流有效值, 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求)

輸出波形:標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率: 50Hz (+5%, -2%)

輸出電壓:0-6V,且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間:大電流輸出不少于24小時(shí)

輸出相數(shù):三相  多路

本文主要介紹一下采樣率和分辨率對(duì)于信號(hào)發(fā)生器輸出波形的影響。DDS和Arb的原理簡(jiǎn)介DDS模式在DDS模式下,信號(hào)發(fā)生器使用一個(gè)特別的緩存訪問(wèn)機(jī)制和時(shí)鐘機(jī)制來(lái)實(shí)現(xiàn)DDS模式。使用DDS模式可以輸出一個(gè)高精度頻率的波形。傳統(tǒng)的模式是輸出儲(chǔ)存器中波形的每個(gè)樣點(diǎn),與傳統(tǒng)的模式不同DDS模式在緩存中儲(chǔ)存著單個(gè)周期的大量采樣點(diǎn),使用DDS技術(shù)可以讓函數(shù)發(fā)生器或者是任意波形發(fā)生器從緩存中選擇輸出哪個(gè)樣本點(diǎn)。JP柜大電流發(fā)生器HNDL 便攜式大電流發(fā)生器 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)


1.3 恒流源配置列表:(按照客戶具體需求配置)

序號(hào)

名稱

數(shù)量

1

3回路三相0-100A電流調(diào)節(jié)器

1

2

3回路三相0-400A電流調(diào)節(jié)器

1

3

3回路三相0-630A電流調(diào)節(jié)器

1

4

3回路三相0-800A電流調(diào)節(jié)器

1

JP柜大電流發(fā)生器HNDL 便攜式大電流發(fā)生器 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)傳感器對(duì)某一物理量的準(zhǔn)確程度取決于傳感器的性能指標(biāo)。為了確定傳感器的測(cè)量范圍、準(zhǔn)確性,必須對(duì)傳感器的性能指標(biāo)進(jìn)行測(cè)試。對(duì)新研制的傳感器,必須進(jìn)行的技術(shù)性能的測(cè)試和校準(zhǔn),用測(cè)試和校準(zhǔn)的數(shù)據(jù)確定其測(cè)試范圍、準(zhǔn)確程度。對(duì)于標(biāo)準(zhǔn)型的傳感器,用校準(zhǔn)數(shù)據(jù)進(jìn)行量值傳遞。這些測(cè)試數(shù)據(jù),既是衡量傳感器好壞的依據(jù),也是改進(jìn)傳感器設(shè)計(jì)和工藝的依據(jù)。傳感器經(jīng)過(guò)一段時(shí)間儲(chǔ)存或使用后,性能指標(biāo)是會(huì)發(fā)生變化的,因此對(duì)傳感器的性能指標(biāo)要定期進(jìn)行復(fù)測(cè)。JP柜大電流發(fā)生器HNDL 便攜式大電流發(fā)生器 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)


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