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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:三回路JP柜溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 全自動溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)

  • 產(chǎn)品型號:HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗(yàn),電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用于開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。三回路JP柜溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 全自動溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)
詳情介紹:

HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng) 三回路JP柜溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 全自動溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn) 

三回路JP柜溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 全自動溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)
聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059用于箱變
,
配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對開關(guān)柜進(jìn)行試驗(yàn)的要求。50Hz工頻電磁場干擾是硬件開發(fā)中難以避免的問題,特別是敏感測量電路中,工頻電磁場會使測量信號淹沒在工頻波形里,嚴(yán)重影響測量穩(wěn)定度,故消除工頻電磁場干擾是敏感測量電路設(shè)計(jì)中不可逃避的挑戰(zhàn)。PT100是當(dāng)前應(yīng)用為廣泛的測溫方案,各位工程師在應(yīng)用此方案時(shí)是否會遇到這樣的問題:為什么PT100測溫電路會存在周期性小波動?該如何解決?其實(shí)出現(xiàn)這樣的現(xiàn)象主要可能是存在如下幾個(gè)原因:-50Hz工頻電磁場的影響;-周圍電機(jī)或者繼電器等開關(guān)動作造成的群脈沖干擾;-傳導(dǎo)進(jìn)去系統(tǒng)的工頻共模干擾。

三回路JP柜溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 全自動溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流:AC范圍 0到額定電流,連續(xù)可調(diào), 且該輸出電流為真有效值(指負(fù)載被試開關(guān)柜及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件, 可輸出的電流有效值, 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求)

輸出波形:標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率: 50Hz (+5%, -2%)

輸出電壓:0-6V,且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間:大電流輸出不少于24小時(shí)

輸出相數(shù):三相  多路

“參數(shù)測量”是示波器波形的一大利器,工程師不用開啟光標(biāo)就可以輕松得到各項(xiàng)參數(shù)。但也有工程師會有點(diǎn)不放心:示波器如何保證測量精度呢?本文就帶你步步深入,了解示波器參數(shù)測量背后的算法。ZDS系列示波器提供了非常豐富的測量功能,測量項(xiàng)目多可達(dá)51種。工程師在使用時(shí)遇到的問題多是因?yàn)閷?xì)節(jié)及原理了解不夠,下面就這些內(nèi)容,帶你一步一步深入挖掘,解開你的疑惑。參數(shù)測量的使用方法打開測量比較簡單,記住兩個(gè)要點(diǎn):我要測量哪個(gè)通道?我要測什么?打開測量小結(jié):測量項(xiàng)目有51項(xiàng)之多,支持24項(xiàng)測量項(xiàng)目同屏幕顯示。三回路JP柜溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 全自動溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)


1.3 恒流源配置列表:(按照客戶具體需求配置)

序號

名稱

數(shù)量

1

3回路三相0-100A電流調(diào)節(jié)器

1

2

3回路三相0-400A電流調(diào)節(jié)器

1

3

3回路三相0-630A電流調(diào)節(jié)器

1

4

3回路三相0-800A電流調(diào)節(jié)器

1

三回路JP柜溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 全自動溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)步進(jìn)馬達(dá),偏振片或柔光鏡,光學(xué)鏡頭組,CCD.CMOS或數(shù)碼相機(jī)等。測量時(shí),將待測的LED光源通過支架放置在曲面反光碗的焦點(diǎn)處。LED光源是180℃范圍發(fā)光,放置時(shí),發(fā)光面的方向是朝向曲面反光碗的。LED發(fā)出的光經(jīng)曲面反光碗反射形成光柱,直接照射至CCD.CMOS或數(shù)碼相機(jī)的光學(xué)鏡頭里,經(jīng)CCD.CMOS或數(shù)碼相機(jī)成像設(shè)備內(nèi)置程序自動測試判定,判定如果入射光光強(qiáng)過大(沒定閾值判定),則啟動馬達(dá)將偏振片或柔光片加在光路上,并用馬達(dá)對偏振片角度進(jìn)行調(diào)節(jié),如果光強(qiáng)值在允許范圍內(nèi),則在測量光路中,不需要加上偏振片或柔光片。三回路JP柜溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 全自動溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)


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