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HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗系統(tǒng) 配電箱多回路溫升試驗系統(tǒng)HNDL 箱變溫升試驗設備 容量大 30年經驗
聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059用于箱變,配電箱額定電流溫升試驗。溫升試驗裝置技術性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗標準對開關柜進行試驗的要求。由于雙電層電容的充放電純屬于物理過程,其循環(huán)次數(shù)高,充電過程快,因此比較適合在電動車中應用。雙電層超級電容是靠極化電解液來儲存電能的一種新型儲能裝置,其原理結構如圖l所示。當向電極充電時,處于理想化電極狀態(tài)的電極表面電荷將吸引周圍電解質溶液中的離子,使這些離子附于電極表面形成雙電荷層,構成雙電層電容。由于超級電容與傳統(tǒng)電容相比,儲存電荷的面積大得多,電荷被隔離的距離小得多,因此一個超級電容單元的電容量就高達幾法至數(shù)萬法。
1.2 技術參數(shù)要求
恒流輸出電流:AC范圍 0到額定電流,連續(xù)可調, 且該輸出電流為真有效值(指負載被試開關柜及相關標準規(guī)定的試驗附件, 可輸出的電流有效值, 電流穩(wěn)定輸出時間應滿足工作時間要求)
輸出波形:標準正弦波
輸出頻率: 50Hz (+5%, -2%)
輸出電壓:0-6V,且連續(xù)可調
工作時間:大電流輸出不少于24小時
輸出相數(shù):三相 多路
由Eq.1可以看出,試件表面的溫度響應與試件厚度L有關。當脈沖線熱源激勵在薄板上時,由于盲孔缺陷處的L值減小,盲孔缺陷處表面溫度的幅值會增大,且根據(jù)matlab模擬得出結論,溫度的衰減也會慢于正常區(qū)域。進行Abaqus模擬后,得出結論:當線熱源掃描至缺陷位置時,在缺陷處溫度突然升高,高于無缺陷處的位置;當線熱源掃描過缺陷后,在缺陷處的熱圖像上發(fā)生明顯高溫處的溫度拖拽現(xiàn)象。針對在粗掃檢測階段發(fā)現(xiàn)的排除噪音后溫度疑似缺陷的微區(qū)域,在細掃描階段的檢測原理中,在該微區(qū)域內進行提高功率的快速細掃描,將快速掃描的線激光近似看作為面激光脈沖加熱。
1.3 恒流源配置列表:(按照客戶具體需求配置)
序號 |
名稱 |
數(shù)量 |
1 |
3回路三相0-100A電流調節(jié)器 |
1 |
2 |
3回路三相0-400A電流調節(jié)器 |
1 |
3 |
3回路三相0-630A電流調節(jié)器 |
1 |
4 |
3回路三相0-800A電流調節(jié)器 |
1 |
