HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng) 三回路配電箱溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 交流溫升試驗(yàn)裝置 容量大 5年保修 

用于箱變,配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開關(guān)柜進(jìn)行試驗(yàn)的要求。模擬偏置模擬偏置，也稱為DC偏置，是一個(gè)非常有用的功能，大多數(shù)示波器都具有該功能。如果運(yùn)用得當(dāng)，可以避免小信號(hào)測(cè)試時(shí)垂直分辨率的丟失的問題。模擬偏置給輸入的信號(hào)加上一個(gè)直流偏置電壓，如果輸入信號(hào)超出了示波器ADC的測(cè)量范圍，加上偏置電壓之后，能將信號(hào)調(diào)節(jié)到示波器的范圍內(nèi)。超出范圍的信號(hào)通過模擬偏置將信號(hào)調(diào)節(jié)至示波器的測(cè)量范圍內(nèi)典型應(yīng)用：LVDS1）LVDS信號(hào)特征LVDS（低壓差分信號(hào)），如所示，兩組相位相反的差分信號(hào)，信號(hào)特征如下：峰峰值：350mV共模電壓偏置：1.2V高壓：1.2V+0.5*350mV=1.375V低壓：1.2V+0.5*350mV=1.025V該測(cè)的是PicoScope6404B示波器，4通道，500MHz，8位分辨率，信號(hào)是仿真的LVDS信號(hào)。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC范圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負(fù)載被試開關(guān)柜及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求）

輸出波形：標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間：大電流輸出不少于24小時(shí)

輸出相數(shù)：三相  多路

微分結(jié)構(gòu)函數(shù)中，波峰與波谷的拐點(diǎn)就是兩種結(jié)構(gòu)的分界處，便于識(shí)別器件內(nèi)部的各層結(jié)構(gòu)。在結(jié)構(gòu)函數(shù)的末端，其值趨向于一條垂直的漸近線，此時(shí)代表熱流傳導(dǎo)到了空氣層，由于空氣的體積無窮大，因此熱容也就無窮大。從原點(diǎn)到這條漸近線之間的x值就是結(jié)區(qū)到空氣環(huán)境的熱阻，也就是穩(wěn)態(tài)情況下的熱阻。利用結(jié)構(gòu)函數(shù)識(shí)別器件封裝內(nèi)部的“缺陷”：對(duì)比上面兩個(gè)器件的剖面結(jié)構(gòu)，固晶層可見明顯差異。如下圖，左邊為正常產(chǎn)品，右邊為固晶層有缺陷的產(chǎn)品。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）

三回路配電箱溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 交流溫升試驗(yàn)裝置 容量大 5年保修對(duì)動(dòng)態(tài)測(cè)試要求比較高的，應(yīng)確認(rèn)電流斜率是否滿足測(cè)試要求。一般而言滿量程電流爬升時(shí)間越小，動(dòng)態(tài)性能越優(yōu)越。對(duì)測(cè)試環(huán)境比較惡劣的，應(yīng)當(dāng)選擇環(huán)路帶寬比較高的負(fù)載，一般而言，滿量程電流爬升時(shí)間越小，環(huán)路帶寬越高，惡劣條件下的表現(xiàn)越優(yōu)越，可靠性也越高。對(duì)智能應(yīng)用及自動(dòng)化測(cè)試要求比較高的用戶，應(yīng)當(dāng)選擇高采樣率的負(fù)載，高采樣率才能保證輸入信號(hào)的還原、保證應(yīng)用的、為智能應(yīng)用的擴(kuò)展提供條件。全天科技大功率直流電子負(fù)載系列采用5Khz同步采樣技術(shù)，可以測(cè)量顯示瞬態(tài)過沖Vp+、瞬態(tài)跌落Vp-、電源上升/下降時(shí)間等一般負(fù)載無法提供的功能。