HNDL系列全自動(dòng)大電流發(fā)生器測(cè)試系統(tǒng)智能型大電流發(fā)生器 三相溫升試驗(yàn)設(shè)備 開(kāi)關(guān)柜溫升測(cè)試儀 5年保修

是青島華能遠(yuǎn)見(jiàn)有限公司自主研制開(kāi)發(fā)的專(zhuān)業(yè)應(yīng)用于母線(xiàn)槽、頻率50Hz開(kāi)關(guān)、電流互感器和其它電器設(shè)備的電流負(fù)載速斷試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。則有效的保證了測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。整機(jī)測(cè)試單元包括：高精度毫秒計(jì)、真有效值電流表、電流傳感器（進(jìn)口件）、調(diào)壓器、大功率升流器、微電腦控制器等部分。自動(dòng)調(diào)壓輸出電流。毋庸置疑，這種運(yùn)營(yíng)方式代價(jià)高昂，更不必說(shuō)這絕不可能是無(wú)懈可擊的全天候控制過(guò)程。多年來(lái)，采礦工業(yè)極為關(guān)心泄漏和水資源管理對(duì)環(huán)境的影響，并且一直在積極尋求改進(jìn)監(jiān)控方法。”考慮到這些需求，IntelliView開(kāi)發(fā)出一種行之有效的、能在數(shù)秒鐘之內(nèi)檢測(cè)和報(bào)警小規(guī)模地上液體泄漏、噴射和匯聚成池的方法。IntelliView的泄漏檢測(cè)解決方案采用新一代稱(chēng)之為DCAM?(雙攝像頭模塊)的產(chǎn)品，一款將可見(jiàn)光相機(jī)和FLIR熱像儀與內(nèi)置型泄漏技術(shù)集于一體的緊湊型產(chǎn)品。18年1月3日，NI(美國(guó)儀器，NationalInstruments,簡(jiǎn)稱(chēng)NI)作為致力于為工程師和科學(xué)家提供基于平臺(tái)的系統(tǒng)解決方案來(lái)應(yīng)對(duì)嚴(yán)峻工程挑戰(zhàn)的供應(yīng)商，宣布推出PXIe-4163高密度源測(cè)量單元(SMU)，該測(cè)量單元提供了比以往NIPXISMU高達(dá)6倍的直流通道密度，適用于測(cè)試RMEMS以及混合信號(hào)和其他模擬半導(dǎo)體元件。NI銷(xiāo)售和市場(chǎng)執(zhí)行副總裁EricStarkloff表示：“5物聯(lián)網(wǎng)和自動(dòng)駕駛汽車(chē)等性的技術(shù)發(fā)展給半導(dǎo)體企業(yè)帶來(lái)持續(xù)的壓力。

特點(diǎn)

1、 采用10英寸真彩大液晶觸摸屏操作；測(cè)試無(wú)需外接任何輔助設(shè)備，全自動(dòng)控制，式操作，簡(jiǎn)單方便。

2、 帶有自動(dòng)穩(wěn)流系統(tǒng)，工控機(jī)可實(shí)現(xiàn)四遙控能

3、 采用當(dāng)前電力電子技術(shù)，抗干擾能力強(qiáng)，輸出精度高，紋波系數(shù)小于0.2％，準(zhǔn)確度高于0.5%；。

4、 自動(dòng)試驗(yàn)只需設(shè)置好目標(biāo)電流即可，無(wú)需人工監(jiān)控，僅需設(shè)定測(cè)試電流，省去手動(dòng)調(diào)壓，減小勞動(dòng)強(qiáng)度，提高工作效率。運(yùn)行時(shí)間可自由設(shè)定

5、絕緣耐壓 1800/AC  1min,   絕緣等級(jí)：B級(jí)

 對(duì)應(yīng)于勵(lì)磁線(xiàn)圈每一恒定的電流，電渦流制動(dòng)器均表現(xiàn)出一條轉(zhuǎn)矩依附于轉(zhuǎn)速的穩(wěn)定制動(dòng)特性曲線(xiàn)，通過(guò)改變勵(lì)磁電流的大小，即可以改變制動(dòng)力矩。電渦流制動(dòng)器磁粉制動(dòng)器磁粉制動(dòng)器是采用磁粉作介質(zhì)，在通電情況下形成磁粉鏈來(lái)傳遞扭矩的新型傳動(dòng)元件，由內(nèi)轉(zhuǎn)子、外轉(zhuǎn)子、激磁線(xiàn)圈及磁粉組成。當(dāng)線(xiàn)圈不通電時(shí)，主動(dòng)轉(zhuǎn)子旋轉(zhuǎn)，由于離心力的作用，磁粉被甩在主動(dòng)轉(zhuǎn)子的內(nèi)壁上，磁粉與從動(dòng)轉(zhuǎn)子之間沒(méi)有接觸，主動(dòng)轉(zhuǎn)子空轉(zhuǎn)。接通直流電源后產(chǎn)生電磁場(chǎng)，工作介質(zhì)磁粉在磁力線(xiàn)作用下形成磁粉鏈，把內(nèi)轉(zhuǎn)子、外轉(zhuǎn)子聯(lián)接起來(lái)，從而達(dá)到傳遞、制動(dòng)扭矩的目的。

二、技術(shù)指標(biāo)

1.輸入 交流50Hz , 380V。

2.可三相平衡的輸出0—20000A交流大電流。運(yùn)行時(shí)段可自行設(shè)定。

3. 輸出開(kāi)口電壓：0-20V.

4.電流精度 ：各電流均可平滑平穩(wěn)連續(xù)可調(diào)，精度高于0.5級(jí).電流電壓表顯示為真有效數(shù)值，精度高、穩(wěn)定度高。

5.電流波形失真   THD 1%  設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于國(guó)標(biāo)<<GB14048.2-14>>.

6.保護(hù)設(shè)置  過(guò)流、過(guò)壓

7.絕緣阻抗  20兆歐

8.絕緣耐壓  1800/AC  1MIN

9.可測(cè)被測(cè)元件的電流動(dòng)作時(shí)間。并可同步記錄鎖定動(dòng)作時(shí)間。常開(kāi)、常閉觸點(diǎn)自動(dòng)判別。測(cè)時(shí)范圍：0.01S---99999.99s,精度;0. 01s.對(duì)于CAN總線(xiàn)間的電抗，我們希望并聯(lián)容抗越大越好，串聯(lián)感抗越小越好，因?yàn)楫?dāng)信號(hào)線(xiàn)路寄生電容和寄生電感存在時(shí)，會(huì)導(dǎo)致信號(hào)的上升/下降沿跳變時(shí)間變長(zhǎng)，同時(shí)也會(huì)導(dǎo)致信號(hào)幅值變小從而可能導(dǎo)致CAN信號(hào)通信過(guò)程中顯隱性誤判。測(cè)量方法阻抗測(cè)量有多種可選擇的方法，每種方法都有優(yōu)缺點(diǎn)，為了達(dá)到的測(cè)量效果需要考慮測(cè)量過(guò)程中的頻率覆蓋范圍、測(cè)量量程、測(cè)量精度和操作的方便性。而在這里，我們選擇普遍使用的電流-電壓直接測(cè)量法作為例子。

三、操作方法

1、儀器接入380V電壓，在將儀器后面電流輸出端子與被測(cè)品接通構(gòu)成電流回路接線(xiàn)端子要緊固。面板上的常閉觸點(diǎn)要接到被測(cè)品的輔助常閉觸點(diǎn)上。

2、打開(kāi)儀器側(cè)面空氣開(kāi)關(guān)，等待幾秒進(jìn)入試驗(yàn)選擇界面如下圖：

電流輸出線(xiàn)與常閉觸點(diǎn)接入后，注急停按鈕不要按下，直接按啟動(dòng)按鈕，即可通過(guò)點(diǎn)擊觸控屏升降按鈕來(lái)調(diào)節(jié)電流輸出大小。(每次試驗(yàn)結(jié)束后，都要按下面板歸零按鈕讓調(diào)壓器自動(dòng)歸零位)。

2) 自動(dòng)升流就選擇進(jìn)入“自動(dòng)試驗(yàn)”界面如下圖：

自動(dòng)試驗(yàn)時(shí)，每次都要先選擇“參數(shù)設(shè)置”來(lái)設(shè)置輸出電流大小。做長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行可自由設(shè)定運(yùn)行時(shí)間。如下圖：OCP即可重新啟動(dòng)輸出。輸出功率較低的電源與輸出功率較高的電源相比,其噪聲更低。那些用于測(cè)試LED陣列的電源,其輸出噪聲通常都小于350uVrms。E36312A三路輸出電源在所有三路輸出上均有20mA的量程，非常適于測(cè)量低電流。使用它的低量程測(cè)量小于20mA的電流時(shí)，我們可以獲得更高的分辨率和精度。技巧2表征不斷變動(dòng)的功耗狀態(tài)許多設(shè)備都被設(shè)計(jì)為能夠在不同的時(shí)間使用不同的功耗。某些設(shè)備可在工作狀態(tài)與睡眠狀態(tài)之間切換功耗，從而延長(zhǎng)電池的使用壽命。

1.在連接儀器測(cè)試線(xiàn)前，應(yīng)先檢查各項(xiàng)調(diào)壓器是否歸零。急停按鈕是否關(guān)閉。

2.輸出電流2500A以上時(shí)，電流輸出線(xiàn)一定要緊固。試驗(yàn)時(shí)間≤300s。LED研發(fā)一LED光源半導(dǎo)體芯片發(fā)熱利用熱像儀，工程師可以根據(jù)得到的光源半導(dǎo)體芯片發(fā)熱紅外熱圖，出其芯片在工作時(shí)的溫度，以及溫度的分布情況，在此基礎(chǔ)，達(dá)到提高LED產(chǎn)品壽命的目的。二LED模塊驅(qū)動(dòng)電路在LED產(chǎn)品研發(fā)中，需要工程師進(jìn)行一部分驅(qū)動(dòng)電路設(shè)計(jì)，整流器電路模塊。利用紅外熱像儀，工程師可以迅速而便捷地發(fā)現(xiàn)電路上溫度異常之處，便于完善電路設(shè)計(jì)。三光衰試驗(yàn)LED產(chǎn)品的光衰就是光在傳輸中的信號(hào)減弱，而現(xiàn)階段的LED大廠(chǎng)們做出的LED產(chǎn)品光衰程度都不相同，大功率LED同樣存在光衰，這和溫度有著直接的關(guān)系，主要是由晶片、熒光粉和封裝技術(shù)決定的。