HN11C高壓開關(guān)綜合測(cè)試儀開關(guān)機(jī)械特性測(cè)試儀 HN11C系列 移相器 價(jià)格實(shí)惠
一、功能特點(diǎn) 

測(cè)試指標(biāo)：可測(cè)試國(guó)產(chǎn)（進(jìn)口）真空、六氟化硫、油高壓斷路器，負(fù)荷開關(guān)、GIS接地刀閘開關(guān)、接觸器、繼電器、空氣開關(guān)等。合、分閘時(shí)間、同期、彈跳時(shí)間、次數(shù)、自動(dòng)重合閘、行程、速度、電流、動(dòng)作電壓等各項(xiàng)數(shù)據(jù)、波形。

抗擾通道：可抵御550KV變電所現(xiàn)場(chǎng)靜電干擾！時(shí)鐘接口閾值區(qū)間附近的抖動(dòng)會(huì)破壞ADC的時(shí)序。，抖動(dòng)會(huì)導(dǎo)致ADC在錯(cuò)誤的時(shí)間采樣，造成對(duì)模擬輸入的誤采樣，并且降低器件的信噪比。降低抖動(dòng)有很多不同的方法，但是在之前我們必須找到抖動(dòng)的根本原因。產(chǎn)生時(shí)鐘抖動(dòng)的原因時(shí)鐘抖動(dòng)的根本原因就是時(shí)鐘和ADC之間的電路噪聲。隨機(jī)抖動(dòng)由隨機(jī)噪聲引起，主要隨機(jī)噪聲源包括：熱噪聲(約翰遜或奈奎斯特噪聲)，由載流子的運(yùn)動(dòng)引起。散粒噪聲，與流經(jīng)勢(shì)壘的直流電流有關(guān)，該勢(shì)壘不連續(xù)平滑，由載流子的單流動(dòng)引起的電流脈沖所造成。

位移通道：1路位移信號(hào)采集，適配耐用的精密電阻線性位移、角位移傳感器。亦可適配用戶傳統(tǒng)自配的滑線電阻傳感器。

同步觸發(fā)：可響應(yīng)電壓、電流、傳感器、斷口變化多種同步觸發(fā)方式。具有無(wú)電位接點(diǎn)操作控制模塊，無(wú)彈跳接點(diǎn)，接點(diǎn)開斷容量： 30A，250V（AC/DC）

操作界面：5.7″黑白液晶屏，菜單式操作，并在面板上增加了快捷設(shè)置按鍵。配備高精度激光傳感器，傳感器安裝迅速、快捷、簡(jiǎn)單；同時(shí)也可配置滑線電阻傳感器和角度傳感器；并配備齊全相關(guān)傳感器、斷路器的測(cè)試支架；由于實(shí)際應(yīng)用中的熱量，需要測(cè)量MOX涂層在真空下的電阻值，然后測(cè)量MOX涂層在空氣中存在一定量的目標(biāo)氣體（以ppm測(cè)試）的情況下的電阻值，兩者的比值作為校準(zhǔn)設(shè)備的依據(jù)。在實(shí)際操作中，校準(zhǔn)的MOX電阻測(cè)量是對(duì)環(huán)境中目標(biāo)氣體密度的指示。對(duì)傳感器加熱器和MOX測(cè)量值的控制，就好比對(duì)設(shè)備寄存器的讀/寫，由控制器ASIC執(zhí)行，而ASIC又由測(cè)試系統(tǒng)通過(guò)I2C接口進(jìn)行控制。I2C接口是四線制總線，由兩個(gè)I2C總線(SCL和SDA)、中斷信號(hào)和復(fù)位信號(hào)組成。

速度定義：提供了常用的開關(guān)速度定義庫(kù)和可編輯速度定義庫(kù)兩種模式可供用戶自行選擇。

錄波功能：12路普通金屬觸頭通斷、線圈電流；行程、時(shí)間波形。具有斷路器型號(hào)庫(kù)功能，測(cè)試時(shí)可直接調(diào)用數(shù)據(jù)庫(kù)斷路器型號(hào)，無(wú)需特別設(shè)置

U盤存儲(chǔ)：可將數(shù)據(jù)及波形文件快速存儲(chǔ)到U盤，直接用上位機(jī)軟件打開。

在線幫助：儀器內(nèi)置豐富的接線、安裝、測(cè)試操作幫助。無(wú)說(shuō)明書就能簡(jiǎn)單使用。而如果C的容值越小，對(duì)電路的影響也就越小。但限于目前的測(cè)試系統(tǒng)，C3和串聯(lián)后的電容值是幾個(gè)pF的級(jí)別，而C1通常是20~30pF，所以儀器對(duì)負(fù)載電容量的影響在10%以上，終會(huì)導(dǎo)致測(cè)量結(jié)果產(chǎn)生幾個(gè)ppm（單位，百萬(wàn)分之一）的頻率偏差，通常電路設(shè)計(jì)對(duì)晶體頻偏的要30ppm左右，所以這個(gè)影響還是不能忽視的。但如果使用頻譜儀，配合近場(chǎng)測(cè)試，因?yàn)閮H在空間上有電磁場(chǎng)的耦合，所以儀器的影響可以忽略。