HN300電纜故障測試儀 電纜外護套故障儀 HN300系列 地下管線儀5年保修

 用于35kV及以下不同等級、不同截面、不同介質及材質的電力電纜的各類故障，包括：開路、短路、低阻、高阻泄漏、高阻閃絡性故障。可配合高壓設備實現(xiàn)傳統(tǒng)電纜故障測試的低壓脈沖法、沖擊閃絡法、速度測量法。 全中文操作軟件和使用界面，子菜單方式和文字提示實現(xiàn)人機互動。工業(yè)級10.4寸彩色觸摸液晶屏顯示，全中文操作軟件和使用界面，子菜單方式和文字提示實現(xiàn)人機互動。由P區(qū)引出的電極為陽極，由N區(qū)引出的電極為陰極，如下圖所示，溫度對二極管的性能有較大的影響，這是由于半導體材料的特性所致，溫度升高時，二極管的正向壓降將減小，每增加1oC，正向壓降減小約2mV，可以從下圖看出，由半導體理論可以得出，PN結所加端電壓u與流過它的電流i的關系為：其中，Is為反向飽和電流，對于硅材料來說，Is約為10pA;q為電子的電量，q=1.6*10-9C；k是玻耳茨曼常數(shù)，k=1.38*10-23J/K；T為溫度，kT/q可以用UT來代替，則常溫下，即T=300K時，UT約為26mV。

技術參數(shù)

1. 采樣方法：低壓脈沖法、沖擊閃絡法、速度測量法

2. 采樣速率：200 MHz、100 MHz、80 MHz、40 MHz、20MHz、10 MHz

3. 脈沖寬度：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs

4. 波速設置：交聯(lián)、聚氯、油浸紙、不滴油和未知類型自設定

5. 沖擊高壓：35kV及以下

6. 測試距離：＜60km，盲區(qū)≤1m

7. 分 辨 率：1m

8. 測試精度：1m

9. 顯示方式：工業(yè)級10.4寸彩色觸摸液晶屏

DC-DC模塊因為其效率高，體積小廣泛應用于電子產(chǎn)品中，在其研發(fā)、生產(chǎn)和檢驗驗收階段都需要測試其主要的技術指標，如源效應，負載效應和準確度等。在測試時，其需要一個可調的直流電源提供激勵。以源效應為例，其測試示意圖如所示。DC-DC源效應測試示意圖以電科43所研制的HTR28系列DC-DC模塊為例，其輸入直流電壓范圍為16V?40V。在測試其源效應時，就需要將可調直流電源的輸入從16V調節(jié)到40V，通常是采用旋轉編碼器來調節(jié)可調直流電源的電壓輸出的，在這么寬的范圍內調節(jié)，調節(jié)需要一定的時間，不能直接從一個電壓跳變到另一個電壓，采用程控直流電源作為可調直流電源就能夠很好解決這個問題。

 四、工作原理

       本產(chǎn)品采用的是時域反射（TDR）原理，即對電纜發(fā)射一電脈沖，電脈沖將在電纜中勻速傳輸，當遇到電纜阻抗發(fā)生變化的地方（故障點），電脈沖將產(chǎn)生反射。測距主機將電脈沖的發(fā)射和反射的變化以時域形式通過液晶屏顯示出來，通過屏幕上的波形可直接判讀故障距離。

① 開關按鍵：按下自鎖接通電源，再按解鎖斷開電源。開機2分鐘無任何操作時，屏幕將變暗進入屏保節(jié)能狀態(tài)。線性度：通常情況下，傳感器的實際靜態(tài)特性輸出是條曲線而非直線。在實際工作中，為使儀表具有均勻刻度的讀數(shù)，常用一條擬合直線近似地代表實際的特性曲線、線性度(非線性誤差)就是這個近似程度的一個性能指標。擬合直線的選取有多種方法。如將零輸入和滿量程輸出點相連的理論直線作為擬合直線;或將與特性曲線上各點偏差的平方和為的理論直線作為擬合直線，此擬合直線稱為二乘法擬合直線。遲滯特性：表征傳感器在正向(輸入量增大)和反向(輸入量減小)行程間輸出-輸入特性曲線不一致的程度，通常用這兩條曲線之間的差值△MAX與滿量程輸出F?S的百分比表示。

② 充電端口：用于連接充電器，給電池充電。

③ 中值旋鈕：順時針旋動中值向上走動；逆時針旋動中值向下走動。（需采樣刷新才有變化）大；逆時針旋動幅度減小。（需采樣刷新才有變化）

⑤ 采樣端口：四芯座，用于連接采樣線。本文說明了一種通用的集成電路RF噪聲測量技術。RF抗干擾能力測試將電路板置于可控制的RF信號電平下，RF電平代表電路工作時可能受到的干擾強度。從而產(chǎn)生了一個標準化、結構化的測試方法，使用這種方法能夠得到在質量中可重復的測試結果。這樣的測試結果有助于IC選型，從而獲得能夠抵抗RF噪聲的電路?？梢詫⒈粶y器件(DUT)靠近正在工作的蜂窩，以測試其RF敏感度。為了得到一個的、具有可重復性的測試結果，需要采用一種固定的測量方法，在可重復的RF場內測試DUT。

⑥ 觸摸式彩色液晶屏：詳見“工作界面介紹”。

按“       ”鍵，彈出采樣方式選擇子菜單。子菜單中包括：“低壓脈沖”、“閃絡方法”和“速度測量”。儀器開機默認“低壓脈沖”，根據(jù)測試需要，可選擇相應的采樣方式，再按“采樣方式”鍵退出。

按“       ”鍵，彈出脈沖寬度選擇子菜單。子菜單中包括7個選項，分別為：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs。根據(jù)測試距離選擇合適的脈寬，按對應的子菜單鍵可以對脈沖寬度進行選擇，儀器開機默認0.2μs，再按“脈寬”鍵退出此項功能。注意：在高壓閃絡法測試中此項不做選擇。

于是，為了進一步減小解決方案的尺寸，有許多多輸出IC可供選擇。這些IC通常包括集成的MOS場效應晶體管(MOSFET)，同時至少要求配置有外部組件。而且，單就這些IC而言，其成本或許更為昂貴。通過減少生產(chǎn)過程中必須安裝到位的外部組件數(shù)量所獲得的收益，往往會抵消前期付出的高昂成本。采用何種拓撲結構呢?在如所示的實際應用中，由于空間的限制，所以LDO將成為我們的。然而，由于功耗和效率的限制，實際情況并非總是如此。