HN300電纜故障測(cè)試儀 路燈（地埋）電纜綜合測(cè)試儀 HN300系列 通信電纜故障綜合測(cè)試儀5年保修

 用于35kV及以下不同等級(jí)、不同截面、不同介質(zhì)及材質(zhì)的電力電纜的各類(lèi)故障，包括：開(kāi)路、短路、低阻、高阻泄漏、高阻閃絡(luò)性故障。可配合高壓設(shè)備實(shí)現(xiàn)傳統(tǒng)電纜故障測(cè)試的低壓脈沖法、沖擊閃絡(luò)法、速度測(cè)量法。 全中文操作軟件和使用界面，子菜單方式和文字提示實(shí)現(xiàn)人機(jī)互動(dòng)。工業(yè)級(jí)10.4寸彩色觸摸液晶屏顯示，全中文操作軟件和使用界面，子菜單方式和文字提示實(shí)現(xiàn)人機(jī)互動(dòng)。分工頻耐壓試驗(yàn)和直流耐壓試驗(yàn)兩種。工頻耐壓試驗(yàn)其試驗(yàn)電壓為被試設(shè)備額定電壓的一倍多至數(shù)倍，不低于1000V。其加壓時(shí)間：對(duì)于以瓷和液體為主要絕緣的設(shè)備為1分鐘，對(duì)于以有機(jī)固體為主要絕緣的設(shè)備為5分鐘，對(duì)于電壓互感器為3分鐘，對(duì)于油浸電力電纜為10分鐘。電氣設(shè)備經(jīng)耐壓試驗(yàn)?zāi)軌虬l(fā)現(xiàn)絕緣的局部缺陷、受潮及老化。交流耐壓試驗(yàn)：在被試設(shè)備電壓的2.5倍及以上進(jìn)行，從介質(zhì)損失的熱擊穿觀點(diǎn)出發(fā)，可以有效地發(fā)現(xiàn)局部游離性缺陷及絕緣老化的弱點(diǎn)。

技術(shù)參數(shù)

1. 采樣方法：低壓脈沖法、沖擊閃絡(luò)法、速度測(cè)量法

2. 采樣速率：200 MHz、100 MHz、80 MHz、40 MHz、20MHz、10 MHz

3. 脈沖寬度：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs

4. 波速設(shè)置：交聯(lián)、聚氯、油浸紙、不滴油和未知類(lèi)型自設(shè)定

5. 沖擊高壓：35kV及以下

6. 測(cè)試距離：＜60km，盲區(qū)≤1m

7. 分 辨 率：1m

8. 測(cè)試精度：1m

9. 顯示方式：工業(yè)級(jí)10.4寸彩色觸摸液晶屏

線性拓?fù)涫荂AN總線布線規(guī)范中為常見(jiàn)的，如果采用了線性拓?fù)渲械摹癟”型分支連接，按規(guī)定分支長(zhǎng)度是不能大于0.3m的，需要更長(zhǎng)的分支應(yīng)該怎么辦呢？CAN拓?fù)浞诸?lèi)CAN(控制器局域網(wǎng),controllerareanetwork)屬于工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)總線的范疇，是一種有效支持分布式控制和實(shí)時(shí)控制的多主異步串行通信網(wǎng)絡(luò)。CAN網(wǎng)絡(luò)的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)主要有線性拓?fù)?、星形拓?fù)洹?shù)狀拓?fù)浜铜h(huán)形拓?fù)?，這幾種拓?fù)涞慕Y(jié)構(gòu)的特點(diǎn)如所示。

 四、工作原理

       本產(chǎn)品采用的是時(shí)域反射（TDR）原理，即對(duì)電纜發(fā)射一電脈沖，電脈沖將在電纜中勻速傳輸，當(dāng)遇到電纜阻抗發(fā)生變化的地方（故障點(diǎn)），電脈沖將產(chǎn)生反射。測(cè)距主機(jī)將電脈沖的發(fā)射和反射的變化以時(shí)域形式通過(guò)液晶屏顯示出來(lái)，通過(guò)屏幕上的波形可直接判讀故障距離。

① 開(kāi)關(guān)按鍵：按下自鎖接通電源，再按解鎖斷開(kāi)電源。開(kāi)機(jī)2分鐘無(wú)任何操作時(shí)，屏幕將變暗進(jìn)入屏保節(jié)能狀態(tài)。測(cè)試圖IT65C/D模擬量接口電源上升時(shí)間的測(cè)試電源上升時(shí)間與開(kāi)機(jī)時(shí)間的區(qū)別，上升時(shí)間（RiseTim：電壓從沒(méi)有上升至穩(wěn)定的這段時(shí)間（一般量測(cè)輸出電壓的上下限為1%~9%或5%~95%），如上圖所示，Va為輸出電壓的1%，Vb為輸出電壓的9%，Va，Vb之間的時(shí)間即為開(kāi)機(jī)電壓上升時(shí)間。測(cè)試方法：?jiǎn)?dòng)測(cè)試：選擇啟動(dòng)測(cè)試觸發(fā)源為電平觸發(fā)方式，觸發(fā)電平設(shè)定為Va，當(dāng)待測(cè)電源輸出電壓達(dá)到Va時(shí)，開(kāi)始測(cè)試；結(jié)束測(cè)試：選擇結(jié)束測(cè)試觸發(fā)源為電平觸發(fā)方式，觸發(fā)電平設(shè)定為Vb，當(dāng)待測(cè)電源輸出電壓達(dá)到Vb時(shí)，停止測(cè)試；負(fù)載計(jì)算出兩個(gè)觸發(fā)信號(hào)之間的時(shí)間差，即為待測(cè)電源的上升時(shí)間。

② 充電端口：用于連接充電器，給電池充電。

③ 中值旋鈕：順時(shí)針旋動(dòng)中值向上走動(dòng)；逆時(shí)針旋動(dòng)中值向下走動(dòng)。（需采樣刷新才有變化）大；逆時(shí)針旋動(dòng)幅度減小。（需采樣刷新才有變化）

⑤ 采樣端口：四芯座，用于連接采樣線。交叉編譯相關(guān)庫(kù)移植人臉識(shí)別算法庫(kù)，該庫(kù)基于NCNN神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)上搭建人臉識(shí)別系統(tǒng)，依賴(lài)的庫(kù)有OpenCV、NCNN以及Sqlit3。這些庫(kù)需要交叉編譯，其中OpenCV和Sqlit3的ARM版S32V已經(jīng)提供不需要再進(jìn)行編譯，編譯后的NCNN和人臉識(shí)別算法庫(kù)都是靜態(tài)庫(kù)，不需要拷貝到目標(biāo)板上。人臉檢測(cè)Demo通過(guò)Qt來(lái)實(shí)現(xiàn)界面顯示，在pro文件中添加VSDK中獲取攝像頭數(shù)據(jù)的相關(guān)庫(kù)，算法移植的相關(guān)庫(kù)，然后通過(guò)如下API接口獲取圖像數(shù)據(jù)。

⑥ 觸摸式彩色液晶屏：詳見(jiàn)“工作界面介紹”。

按“       ”鍵，彈出采樣方式選擇子菜單。子菜單中包括：“低壓脈沖”、“閃絡(luò)方法”和“速度測(cè)量”。儀器開(kāi)機(jī)默認(rèn)“低壓脈沖”，根據(jù)測(cè)試需要，可選擇相應(yīng)的采樣方式，再按“采樣方式”鍵退出。

按“       ”鍵，彈出脈沖寬度選擇子菜單。子菜單中包括7個(gè)選項(xiàng)，分別為：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs。根據(jù)測(cè)試距離選擇合適的脈寬，按對(duì)應(yīng)的子菜單鍵可以對(duì)脈沖寬度進(jìn)行選擇，儀器開(kāi)機(jī)默認(rèn)0.2μs，再按“脈寬”鍵退出此項(xiàng)功能。注意：在高壓閃絡(luò)法測(cè)試中此項(xiàng)不做選擇。

測(cè)試采用TOS2000B系列示波器外觀如下圖：測(cè)試步驟如下：1.電壓衰減設(shè)置→2.采集通道調(diào)試→3.觸發(fā)控制→4.光標(biāo)測(cè)量讀數(shù)設(shè)置1.電壓衰減設(shè)置電壓有不同的衰減系數(shù)，這些系數(shù)影響信號(hào)的垂直刻度。檢查向?qū)?yàn)證示波器的衰減系數(shù)是否與匹配。作為檢查的替代方法，您可以手動(dòng)選擇與衰減相匹配的系數(shù)。，要與連接到CH1的設(shè)置為10X的相匹配，請(qǐng)按下通道1“Menu（菜單）”“”“電壓”“衰減”選項(xiàng)，然后選擇10X。