HN300電纜故障測(cè)試儀 電纜故障綜合測(cè)試儀 HN300系列 高壓電橋故障測(cè)試儀（儀）生產(chǎn)廠家

 用于35kV及以下不同等級(jí)、不同截面、不同介質(zhì)及材質(zhì)的電力電纜的各類(lèi)故障，包括：開(kāi)路、短路、低阻、高阻泄漏、高阻閃絡(luò)性故障。可配合高壓設(shè)備實(shí)現(xiàn)傳統(tǒng)電纜故障測(cè)試的低壓脈沖法、沖擊閃絡(luò)法、速度測(cè)量法。 全中文操作軟件和使用界面，子菜單方式和文字提示實(shí)現(xiàn)人機(jī)互動(dòng)。工業(yè)級(jí)10.4寸彩色觸摸液晶屏顯示，全中文操作軟件和使用界面，子菜單方式和文字提示實(shí)現(xiàn)人機(jī)互動(dòng)。為了同時(shí)實(shí)現(xiàn)多通道和高速采集，橫河SMARTDAC+系列采集器采用了各模塊立A/D的硬件設(shè)計(jì)，各模塊間的數(shù)據(jù)采集并行處理，而主機(jī)CPU負(fù)責(zé)所有通道的數(shù)據(jù)保存和上位通信，從而可以保證5ms*1ch的系統(tǒng)性能。靈活的信號(hào)輸入在研究和設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)領(lǐng)域使用的記錄儀，需要根據(jù)實(shí)驗(yàn)?zāi)康挠涗洀膫鞲衅骰蛘邚碾妷?電流源得到的信號(hào)。因此需要對(duì)應(yīng)溫度傳感器和電壓量程。可拆卸端子另外，多點(diǎn)測(cè)試有大量接線的工作，為了提高接線的作業(yè)效率，可以選擇端子可拆卸的產(chǎn)品。

技術(shù)參數(shù)

1. 采樣方法：低壓脈沖法、沖擊閃絡(luò)法、速度測(cè)量法

2. 采樣速率：200 MHz、100 MHz、80 MHz、40 MHz、20MHz、10 MHz

3. 脈沖寬度：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs

4. 波速設(shè)置：交聯(lián)、聚氯、油浸紙、不滴油和未知類(lèi)型自設(shè)定

5. 沖擊高壓：35kV及以下

6. 測(cè)試距離：＜60km，盲區(qū)≤1m

7. 分 辨 率：1m

8. 測(cè)試精度：1m

9. 顯示方式：工業(yè)級(jí)10.4寸彩色觸摸液晶屏

然后，以的采樣率觸發(fā)采集并填充每一幀，只捕獲感興趣的波形部分。然后，這些幀可以按照它們被捕獲的順序被單查看，或者疊加以顯示它們的相似性和差，從而使您能夠輕松地審視波形，以便您可以將注意力集中在感興趣的信號(hào)上。演示了這種方法，捕獲了100,000幀。使用5系列MSO中的Fastframe分段存儲(chǔ)器，以3.125GS/s的采樣率捕獲脈沖，記錄長(zhǎng)度與相同。Fastframe采集模式的觸發(fā)速率可以達(dá)到每秒500萬(wàn)幀(采集/秒)，這比示波器其他的觸發(fā)速率都要快得多。

 四、工作原理

       本產(chǎn)品采用的是時(shí)域反射（TDR）原理，即對(duì)電纜發(fā)射一電脈沖，電脈沖將在電纜中勻速傳輸，當(dāng)遇到電纜阻抗發(fā)生變化的地方（故障點(diǎn)），電脈沖將產(chǎn)生反射。測(cè)距主機(jī)將電脈沖的發(fā)射和反射的變化以時(shí)域形式通過(guò)液晶屏顯示出來(lái)，通過(guò)屏幕上的波形可直接判讀故障距離。

① 開(kāi)關(guān)按鍵：按下自鎖接通電源，再按解鎖斷開(kāi)電源。開(kāi)機(jī)2分鐘無(wú)任何操作時(shí)，屏幕將變暗進(jìn)入屏保節(jié)能狀態(tài)。TestCenter開(kāi)發(fā)平臺(tái)為診斷程序的開(kāi)發(fā)提供了支持，包括圖形化的故障建模工具、IEEE1232標(biāo)準(zhǔn)的診斷推理機(jī)、故障診斷程序開(kāi)發(fā)等。IEEE1232標(biāo)準(zhǔn)為故障樹(shù)在內(nèi)的幾種故障診斷方法建立了相應(yīng)的診斷信息模型，并了兩種格式來(lái)描述這些信息模型，使之成為可交換文件。標(biāo)準(zhǔn)還定義了符合IEEE1232標(biāo)準(zhǔn)的診斷推理機(jī)。交換文件由推理機(jī)解析，對(duì)診斷起指導(dǎo)作用。IEEE1232推理機(jī)通過(guò)服務(wù)接口與測(cè)試系統(tǒng)交互。

② 充電端口：用于連接充電器，給電池充電。

③ 中值旋鈕：順時(shí)針旋動(dòng)中值向上走動(dòng)；逆時(shí)針旋動(dòng)中值向下走動(dòng)。（需采樣刷新才有變化）大；逆時(shí)針旋動(dòng)幅度減小。（需采樣刷新才有變化）

⑤ 采樣端口：四芯座，用于連接采樣線。testo89紅外熱成像儀因其高熱靈敏度、高分辨率、德圖的濕度成像功能，順利完成檢測(cè)任務(wù)。解決方案德圖專家來(lái)到洞窟后，對(duì)現(xiàn)場(chǎng)評(píng)估。洞內(nèi)的石像在古代依山開(kāi)鑿而成，歷經(jīng)朝代更迭，石像表面進(jìn)行了泥塑彩繪并以這樣的姿態(tài)流傳現(xiàn)今。此次，針對(duì)此類(lèi)石窟石像，有三個(gè)檢測(cè)目標(biāo)：發(fā)現(xiàn)裂紋檢測(cè)佛像表面的泥塑裂紋，使得修復(fù)專家盡早發(fā)現(xiàn)并著手修復(fù)。當(dāng)泥塑的裂紋擴(kuò)大到肉眼可見(jiàn)甚至開(kāi)始脫落時(shí)，石像的修復(fù)難度就越大。佛像均有十幾米高，近距離檢查佛像本體十分不便。

⑥ 觸摸式彩色液晶屏：詳見(jiàn)“工作界面介紹”。

按“       ”鍵，彈出采樣方式選擇子菜單。子菜單中包括：“低壓脈沖”、“閃絡(luò)方法”和“速度測(cè)量”。儀器開(kāi)機(jī)默認(rèn)“低壓脈沖”，根據(jù)測(cè)試需要，可選擇相應(yīng)的采樣方式，再按“采樣方式”鍵退出。

按“       ”鍵，彈出脈沖寬度選擇子菜單。子菜單中包括7個(gè)選項(xiàng)，分別為：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs。根據(jù)測(cè)試距離選擇合適的脈寬，按對(duì)應(yīng)的子菜單鍵可以對(duì)脈沖寬度進(jìn)行選擇，儀器開(kāi)機(jī)默認(rèn)0.2μs，再按“脈寬”鍵退出此項(xiàng)功能。注意：在高壓閃絡(luò)法測(cè)試中此項(xiàng)不做選擇。

時(shí)序的一致性和穩(wěn)定性，一直以來(lái)都是業(yè)界難題。在某產(chǎn)品測(cè)試過(guò)程中，工程師反饋偶爾會(huì)出現(xiàn)數(shù)據(jù)異常，經(jīng)過(guò)系統(tǒng)性的，致遠(yuǎn)電子測(cè)試團(tuán)隊(duì)推測(cè)可能是ADC芯片的SPI通信總線的時(shí)序存在偶發(fā)異常，但由于異常出現(xiàn)概率很低，該如何對(duì)SPI通信總線偶發(fā)的時(shí)序問(wèn)題進(jìn)行呢？下文為你ZLG致遠(yuǎn)電子的時(shí)序一致性測(cè)試方案。搭建測(cè)試環(huán)境SPI總線測(cè)試點(diǎn)位于主機(jī)的主板底部，時(shí)鐘頻率大約為33MHz，屬高頻信號(hào)，所以對(duì)的端接方式比較講究；為了方便測(cè)試，如所示，用將測(cè)試點(diǎn)引出，的地線也從前端自繞線引出，這樣可以提高信號(hào)完整性，減少示波器采樣對(duì)時(shí)序過(guò)程的影響。