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HN300電纜故障測(cè)試儀 電纜外護(hù)套故障測(cè)試儀 HN300系列 電纜試扎器30年經(jīng)驗(yàn)
用于35kV及以下不同等級(jí)、不同截面、不同介質(zhì)及材質(zhì)的電力電纜的各類故障,包括:開(kāi)路、短路、低阻、高阻泄漏、高阻閃絡(luò)性故障。可配合高壓設(shè)備實(shí)現(xiàn)傳統(tǒng)電纜故障測(cè)試的低壓脈沖法、沖擊閃絡(luò)法、速度測(cè)量法。 全中文操作軟件和使用界面,子菜單方式和文字提示實(shí)現(xiàn)人機(jī)互動(dòng)。工業(yè)級(jí)10.4寸彩色觸摸液晶屏顯示,全中文操作軟件和使用界面,子菜單方式和文字提示實(shí)現(xiàn)人機(jī)互動(dòng)。UPS電源的工作過(guò)程多且時(shí)間長(zhǎng),往往需要?jiǎng)佑枚嗯_(tái)示波器和高壓差分同時(shí)測(cè)試,記錄數(shù)據(jù)也相對(duì)比較麻煩,今天給大家一種新的測(cè)試方法,“式”操作,測(cè)試時(shí)間節(jié)省80%。引子在研發(fā)和測(cè)試時(shí),你是否有過(guò)這樣糟糕的體驗(yàn):想一次查看四路以上的信號(hào)波形但目前示波器一般多只有四個(gè)通道;接線時(shí)頭疼測(cè)量通道間不隔離,混合接線時(shí)一不小心就燒壞或示波器;受存儲(chǔ)限制,測(cè)試時(shí)需要不停地進(jìn)行開(kāi)始、停止、保存,后再逐個(gè)打開(kāi)查看;如此等等。
技術(shù)參數(shù)
1. 采樣方法:低壓脈沖法、沖擊閃絡(luò)法、速度測(cè)量法
2. 采樣速率:200 MHz、100 MHz、80 MHz、40 MHz、20MHz、10 MHz
3. 脈沖寬度:0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs
4. 波速設(shè)置:交聯(lián)、聚氯、油浸紙、不滴油和未知類型自設(shè)定
5. 沖擊高壓:35kV及以下
6. 測(cè)試距離:<60km,盲區(qū)≤1m
7. 分 辨 率:1m
8. 測(cè)試精度:1m
9. 顯示方式:工業(yè)級(jí)10.4寸彩色觸摸液晶屏
當(dāng)今的制冷設(shè)備使用可轉(zhuǎn)化成氣體的冷卻劑。盡管這種類型的冷卻劑是有效制冷過(guò)程的基礎(chǔ),但可能會(huì)對(duì)環(huán)境造成危害。那么,如果我們可以使用固體材料而不是液體材料作為經(jīng)濟(jì)、環(huán)保的方式來(lái)對(duì)食品、飲料、甚至電子設(shè)備進(jìn)行制冷呢?這正是盧森堡科學(xué)技術(shù)研究所(LIST)正在研究的課題。該研究所的研究人員利用FLIR紅外熱像儀深入研究這一課題。LIST的研究人員測(cè)量電熱效應(yīng),并希望更好地了解其制冷應(yīng)用的可用性。盧森堡科學(xué)技術(shù)研究所(LIST)是一家研究和技術(shù)機(jī)構(gòu),位于Esch-Belval鎮(zhèn)的盧森堡新研究與園區(qū)的中心位置。
四、工作原理
本產(chǎn)品采用的是時(shí)域反射(TDR)原理,即對(duì)電纜發(fā)射一電脈沖,電脈沖將在電纜中勻速傳輸,當(dāng)遇到電纜阻抗發(fā)生變化的地方(故障點(diǎn)),電脈沖將產(chǎn)生反射。測(cè)距主機(jī)將電脈沖的發(fā)射和反射的變化以時(shí)域形式通過(guò)液晶屏顯示出來(lái),通過(guò)屏幕上的波形可直接判讀故障距離。
① 開(kāi)關(guān)按鍵:按下自鎖接通電源,再按解鎖斷開(kāi)電源。開(kāi)機(jī)2分鐘無(wú)任何操作時(shí),屏幕將變暗進(jìn)入屏保節(jié)能狀態(tài)。CAN信號(hào)質(zhì)量評(píng)估的相關(guān)概念CAN節(jié)點(diǎn)是通過(guò)差分信號(hào)進(jìn)行通信的,信號(hào)質(zhì)量的評(píng)估對(duì)象為CAN差分信號(hào)的波形。信號(hào)質(zhì)量評(píng)估即對(duì)差分信號(hào)波形的幅值、斜率及擾動(dòng)等元素按照一定的規(guī)則進(jìn)行綜合評(píng)估,得到的質(zhì)量評(píng)估結(jié)果,以百分比的形式呈現(xiàn)。信號(hào)質(zhì)量評(píng)估參數(shù)圖如所示:信號(hào)質(zhì)量評(píng)估參數(shù)圖無(wú)干擾電壓范圍無(wú)干擾電壓范圍是指待評(píng)估差分波形段中顯性位電平的值和隱性位電平的值之間的差值。峰峰值峰峰值是指波形中值和值的差值。
② 充電端口:用于連接充電器,給電池充電。
③ 中值旋鈕:順時(shí)針旋動(dòng)中值向上走動(dòng);逆時(shí)針旋動(dòng)中值向下走動(dòng)。(需采樣刷新才有變化)大;逆時(shí)針旋動(dòng)幅度減小。(需采樣刷新才有變化)
⑤ 采樣端口:四芯座,用于連接采樣線。世界半導(dǎo)體工業(yè)界,這種進(jìn)步至少仍將持續(xù)10到15年。面對(duì)現(xiàn)有的晶體管模式及技術(shù)已經(jīng)臨近極限,借助芯片設(shè)計(jì)人員巨大的創(chuàng)造才能,使一個(gè)個(gè)看似不可逾越的難關(guān)化險(xiǎn)為夷,硅晶體管繼續(xù)著小型化的步伐。近期美國(guó)科學(xué)家的科技成果顯示,將10納米長(zhǎng)的圖案壓印在硅片上的時(shí)間為四百萬(wàn)分之一秒,把硅片上晶體管的密度提高了100倍,同時(shí)也大大提高了線生產(chǎn)的速度。這一成果將使電子產(chǎn)品繼續(xù)微小化,使摩爾定律繼續(xù)適用。
⑥ 觸摸式彩色液晶屏:詳見(jiàn)“工作界面介紹”。
按“ ”鍵,彈出采樣方式選擇子菜單。子菜單中包括:“低壓脈沖”、“閃絡(luò)方法”和“速度測(cè)量”。儀器開(kāi)機(jī)默認(rèn)“低壓脈沖”,根據(jù)測(cè)試需要,可選擇相應(yīng)的采樣方式,再按“采樣方式”鍵退出。
按“ ”鍵,彈出脈沖寬度選擇子菜單。子菜單中包括7個(gè)選項(xiàng),分別為:0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs。根據(jù)測(cè)試距離選擇合適的脈寬,按對(duì)應(yīng)的子菜單鍵可以對(duì)脈沖寬度進(jìn)行選擇,儀器開(kāi)機(jī)默認(rèn)0.2μs,再按“脈寬”鍵退出此項(xiàng)功能。注意:在高壓閃絡(luò)法測(cè)試中此項(xiàng)不做選擇。
X熒光光譜可以對(duì)固體,甚至液體、氣體中元素做快速定性定量的,對(duì)各材質(zhì)的絕大多數(shù)如金屬、合金、陶瓷、玻璃、玉石珠寶甚至?xí)?、顏料、油畫中的元素或微量元素含量做定性識(shí)別和定量。X射線熒光光譜在考古學(xué)中主要應(yīng)用在鑒定古物的年代、真?zhèn)?、產(chǎn)地、制作工藝等方面。X熒光光譜在考古中的應(yīng)用應(yīng)用一:的鑒定1)材質(zhì)鑒定有些用肉眼就可以分辨是陶器還是青銅器;有些用肉眼就不好分辨,考古學(xué)家們有時(shí)為一件是什么材質(zhì)爭(zhēng)論不休。