HN300電纜故障測(cè)試儀 八次脈沖電纜故障測(cè)試儀 HN300系列 高壓電橋測(cè)距儀30年經(jīng)驗(yàn)

 用于35kV及以下不同等級(jí)、不同截面、不同介質(zhì)及材質(zhì)的電力電纜的各類故障，包括：開路、短路、低阻、高阻泄漏、高阻閃絡(luò)性故障。可配合高壓設(shè)備實(shí)現(xiàn)傳統(tǒng)電纜故障測(cè)試的低壓脈沖法、沖擊閃絡(luò)法、速度測(cè)量法。 全中文操作軟件和使用界面，子菜單方式和文字提示實(shí)現(xiàn)人機(jī)互動(dòng)。工業(yè)級(jí)10.4寸彩色觸摸液晶屏顯示，全中文操作軟件和使用界面，子菜單方式和文字提示實(shí)現(xiàn)人機(jī)互動(dòng)。它融合了數(shù)字?jǐn)U頻、數(shù)字信號(hào)處理和前向糾錯(cuò)編碼技術(shù)，擁有的性能。此前，只有一些**通訊系統(tǒng)中才會(huì)融合這些技術(shù)，而隨著LoRa的引入，嵌入式無(wú)線通信領(lǐng)域的局面發(fā)生了的改變。：支持LoRa調(diào)制技術(shù)的無(wú)線產(chǎn)品前向糾錯(cuò)編碼技術(shù)是給待傳輸數(shù)據(jù)序列中增加了一些冗余信息，這樣，數(shù)據(jù)傳輸進(jìn)程中注入的錯(cuò)誤碼元在接收端就會(huì)被及時(shí)糾正。這一技術(shù)減少了以往創(chuàng)建“自修復(fù)”數(shù)據(jù)包來(lái)重發(fā)的需求，且在解決由多徑衰落引發(fā)的突發(fā)性誤碼中表現(xiàn)良好。

技術(shù)參數(shù)

1. 采樣方法：低壓脈沖法、沖擊閃絡(luò)法、速度測(cè)量法

2. 采樣速率：200 MHz、100 MHz、80 MHz、40 MHz、20MHz、10 MHz

3. 脈沖寬度：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs

4. 波速設(shè)置：交聯(lián)、聚氯、油浸紙、不滴油和未知類型自設(shè)定

5. 沖擊高壓：35kV及以下

6. 測(cè)試距離：＜60km，盲區(qū)≤1m

7. 分 辨 率：1m

8. 測(cè)試精度：1m

9. 顯示方式：工業(yè)級(jí)10.4寸彩色觸摸液晶屏

此外，SpectrumView還支持多通道頻譜測(cè)試，這得益于TEK049支持同時(shí)對(duì)每個(gè)通道的信號(hào)作頻譜處理。同時(shí)觀測(cè)兩個(gè)通道的時(shí)域波形及頻譜TEK049的多通道時(shí)域波形顯示方式，所的頻譜既可以“堆棧(Stacked)”顯示，也可以“重疊(Overlay)”顯示。同時(shí)觀測(cè)了兩個(gè)通道的時(shí)域波形及頻譜，并且采用了重疊顯示，以便于頻譜之間的對(duì)比。所有通道的頻譜共用相同的Span、RBW、FFTWindow及SpectrumTime，這一點(diǎn)與時(shí)域要求多通道間共用采樣率、水平時(shí)基及觸發(fā)類似。

 四、工作原理

       本產(chǎn)品采用的是時(shí)域反射（TDR）原理，即對(duì)電纜發(fā)射一電脈沖，電脈沖將在電纜中勻速傳輸，當(dāng)遇到電纜阻抗發(fā)生變化的地方（故障點(diǎn)），電脈沖將產(chǎn)生反射。測(cè)距主機(jī)將電脈沖的發(fā)射和反射的變化以時(shí)域形式通過(guò)液晶屏顯示出來(lái)，通過(guò)屏幕上的波形可直接判讀故障距離。

① 開關(guān)按鍵：按下自鎖接通電源，再按解鎖斷開電源。開機(jī)2分鐘無(wú)任何操作時(shí)，屏幕將變暗進(jìn)入屏保節(jié)能狀態(tài)。AMRC擔(dān)負(fù)著研究航天和其他高附加值生產(chǎn)部門的先進(jìn)制造和材料研究，通過(guò)與波音公司合作，在工業(yè)界和學(xué)術(shù)界之間的強(qiáng)強(qiáng)聯(lián)合，現(xiàn)已成為研究中心的運(yùn)營(yíng)模式。AMRC中的內(nèi)部部門是先進(jìn)結(jié)構(gòu)試驗(yàn)中心（AdvancedStructuralTestingCentre簡(jiǎn)稱ASTC），是一家擁有高能力和性能并致力于填補(bǔ)總工程過(guò)程中的漏洞的測(cè)試和認(rèn)證中心。由于許多AMRC研制的技術(shù)和產(chǎn)品都會(huì)用于關(guān)鍵安件，所以對(duì)于產(chǎn)品的認(rèn)證和評(píng)價(jià)，是對(duì)新制造方法和技術(shù)的關(guān)鍵參考。

② 充電端口：用于連接充電器，給電池充電。

③ 中值旋鈕：順時(shí)針旋動(dòng)中值向上走動(dòng)；逆時(shí)針旋動(dòng)中值向下走動(dòng)。（需采樣刷新才有變化）大；逆時(shí)針旋動(dòng)幅度減小。（需采樣刷新才有變化）

⑤ 采樣端口：四芯座，用于連接采樣線。當(dāng)今的制冷設(shè)備使用可轉(zhuǎn)化成氣體的冷卻劑。盡管這種類型的冷卻劑是有效制冷過(guò)程的基礎(chǔ)，但可能會(huì)對(duì)環(huán)境造成危害。那么，如果我們可以使用固體材料而不是液體材料作為經(jīng)濟(jì)、環(huán)保的方式來(lái)對(duì)食品、飲料、甚至電子設(shè)備進(jìn)行制冷呢？這正是盧森堡科學(xué)技術(shù)研究所（LIST）正在研究的課題。該研究所的研究人員利用FLIR紅外熱像儀深入研究這一課題。LIST的研究人員測(cè)量電熱效應(yīng)，并希望更好地了解其制冷應(yīng)用的可用性。盧森堡科學(xué)技術(shù)研究所（LIST）是一家研究和技術(shù)機(jī)構(gòu)，位于Esch-Belval鎮(zhèn)的盧森堡新研究與園區(qū)的中心位置。

⑥ 觸摸式彩色液晶屏：詳見“工作界面介紹”。

按“       ”鍵，彈出采樣方式選擇子菜單。子菜單中包括：“低壓脈沖”、“閃絡(luò)方法”和“速度測(cè)量”。儀器開機(jī)默認(rèn)“低壓脈沖”，根據(jù)測(cè)試需要，可選擇相應(yīng)的采樣方式，再按“采樣方式”鍵退出。

按“       ”鍵，彈出脈沖寬度選擇子菜單。子菜單中包括7個(gè)選項(xiàng)，分別為：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs。根據(jù)測(cè)試距離選擇合適的脈寬，按對(duì)應(yīng)的子菜單鍵可以對(duì)脈沖寬度進(jìn)行選擇，儀器開機(jī)默認(rèn)0.2μs，再按“脈寬”鍵退出此項(xiàng)功能。注意：在高壓閃絡(luò)法測(cè)試中此項(xiàng)不做選擇。

TestCenter實(shí)現(xiàn)了對(duì)測(cè)試資源、測(cè)試程序、測(cè)試數(shù)據(jù)以及測(cè)試計(jì)劃的無(wú)縫集成和統(tǒng)一部署，這將幫助您完成對(duì)自己的測(cè)試系統(tǒng)軟件從設(shè)計(jì)開發(fā)到執(zhí)行的掌控。TestCenter為測(cè)試系統(tǒng)軟件的開發(fā)、執(zhí)行與管理提供了一個(gè)靈活而強(qiáng)大的基礎(chǔ)框架。使用TestCenter軟件平臺(tái)開發(fā)測(cè)試系統(tǒng)軟件，您可以快速獲得執(zhí)行流程控制、報(bào)表生成、數(shù)據(jù)庫(kù)存儲(chǔ)等功能。TestCenter的強(qiáng)大功能將您的計(jì)算機(jī)轉(zhuǎn)變成為一個(gè)測(cè)試工作站，是您進(jìn)行測(cè)試系統(tǒng)軟件開發(fā)的得力工具。