HN300電纜故障測試儀 電纜故障綜合測試儀 HN300系列 電纜試扎器（雙控、雙槍5年保修

 用于35kV及以下不同等級、不同截面、不同介質(zhì)及材質(zhì)的電力電纜的各類故障，包括：開路、短路、低阻、高阻泄漏、高阻閃絡(luò)性故障。可配合高壓設(shè)備實(shí)現(xiàn)傳統(tǒng)電纜故障測試的低壓脈沖法、沖擊閃絡(luò)法、速度測量法。 全中文操作軟件和使用界面，子菜單方式和文字提示實(shí)現(xiàn)人機(jī)互動。工業(yè)級10.4寸彩色觸摸液晶屏顯示，全中文操作軟件和使用界面，子菜單方式和文字提示實(shí)現(xiàn)人機(jī)互動。實(shí)時頻譜功能界面顯示其中，熒光頻譜圖是基于頻譜統(tǒng)計(jì)的二維圖譜。在熒光頻譜圖中，橫軸代表頻率，縱軸代表幅度，像素點(diǎn)的色彩代表該頻率點(diǎn)的幅度統(tǒng)計(jì)次數(shù)，如所示。通過熒光頻譜圖和無縫瀑布圖對實(shí)現(xiàn)信號實(shí)現(xiàn)無丟失顯示，實(shí)時頻譜功能可以發(fā)現(xiàn)瞬態(tài)信號并顯示信號的實(shí)時變化。熒光頻譜原理示意圖熒光頻譜圖的應(yīng)用熒光頻譜將一段時間內(nèi)所統(tǒng)計(jì)的各個頻率及相應(yīng)幅度出現(xiàn)的次數(shù)轉(zhuǎn)化為顏色，通過顏色揭示信號的概率。一般而言，熒光頻譜圖默認(rèn)設(shè)置能夠滿足絕大數(shù)的信號顯示要求。

技術(shù)參數(shù)

1. 采樣方法：低壓脈沖法、沖擊閃絡(luò)法、速度測量法

2. 采樣速率：200 MHz、100 MHz、80 MHz、40 MHz、20MHz、10 MHz

3. 脈沖寬度：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs

4. 波速設(shè)置：交聯(lián)、聚氯、油浸紙、不滴油和未知類型自設(shè)定

5. 沖擊高壓：35kV及以下

6. 測試距離：＜60km，盲區(qū)≤1m

7. 分 辨 率：1m

8. 測試精度：1m

9. 顯示方式：工業(yè)級10.4寸彩色觸摸液晶屏

輸入電阻值應(yīng)限制在10Ω以下。至少，選擇電容器以地匹配分流電阻器及其電感的時間常數(shù)；或者，選擇電容器以提供低于該點(diǎn)的極點(diǎn)。使輸入濾波器時間常數(shù)等于或大于并聯(lián)電阻及其電感時間常數(shù)：這簡化為基于使用10Ω電阻來確定每個RFILT的CFILT值：如果主要目的是濾除高頻噪聲，則應(yīng)將電容器增加至提供所需濾波的值。，100kHz的濾波頻率需要一個80nF電容。該電容器可以有一個低額定電壓值，但應(yīng)具有良好的高頻特性。

 四、工作原理

       本產(chǎn)品采用的是時域反射（TDR）原理，即對電纜發(fā)射一電脈沖，電脈沖將在電纜中勻速傳輸，當(dāng)遇到電纜阻抗發(fā)生變化的地方（故障點(diǎn)），電脈沖將產(chǎn)生反射。測距主機(jī)將電脈沖的發(fā)射和反射的變化以時域形式通過液晶屏顯示出來，通過屏幕上的波形可直接判讀故障距離。

① 開關(guān)按鍵：按下自鎖接通電源，再按解鎖斷開電源。開機(jī)2分鐘無任何操作時，屏幕將變暗進(jìn)入屏保節(jié)能狀態(tài)。電源作為電子產(chǎn)品或者電池的供電設(shè)備，除了性能要滿足供電產(chǎn)品的要求外，其自身的保護(hù)措施也非常重要。如過壓、過流、過功率、過溫保護(hù)等，過流保護(hù)點(diǎn)測試，也就是OCP測試。以前是手工去調(diào)整電流的大小，人工觀察現(xiàn)像。但是手和眼睛的反應(yīng)速度等因素導(dǎo)致要進(jìn)行多次測量才能確定。全天科技研發(fā)設(shè)計(jì)的可編程直流電子負(fù)載自帶OCP和OPP測試功能，很好的解決了此問題。在此菜單下使用者可以設(shè)置電流或功率開始值、結(jié)束值、步數(shù)、每步時間、并且還可以設(shè)定觸發(fā)電壓及規(guī)格上下限。

② 充電端口：用于連接充電器，給電池充電。

③ 中值旋鈕：順時針旋動中值向上走動；逆時針旋動中值向下走動。（需采樣刷新才有變化）大；逆時針旋動幅度減小。（需采樣刷新才有變化）

⑤ 采樣端口：四芯座，用于連接采樣線。接觸式的測試方法中測溫元件直接與被測介質(zhì)接觸，直接測得被測物體的溫度，因而簡單、可靠、測量精度高。經(jīng)常用到的如所示：.功能單一的測溫儀產(chǎn)品的溫升試驗(yàn)也是安規(guī)要求的一個重要部分，那么我們在設(shè)計(jì)一款產(chǎn)品時，如何實(shí)現(xiàn)經(jīng)濟(jì)而且便捷的測量呢?開關(guān)電源中MOSFET和二極管會產(chǎn)生開關(guān)損耗以及傳導(dǎo)損耗、電感損耗包括線圈損耗和磁芯損耗、電容等造成的損耗，這些損耗終都以熱的形式展現(xiàn)出來，而過熱又會降低元器件性能導(dǎo)致?lián)p耗加劇，所以了解無用功率損失在哪里很重要。

⑥ 觸摸式彩色液晶屏：詳見“工作界面介紹”。

按“       ”鍵，彈出采樣方式選擇子菜單。子菜單中包括：“低壓脈沖”、“閃絡(luò)方法”和“速度測量”。儀器開機(jī)默認(rèn)“低壓脈沖”，根據(jù)測試需要，可選擇相應(yīng)的采樣方式，再按“采樣方式”鍵退出。

按“       ”鍵，彈出脈沖寬度選擇子菜單。子菜單中包括7個選項(xiàng)，分別為：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs。根據(jù)測試距離選擇合適的脈寬，按對應(yīng)的子菜單鍵可以對脈沖寬度進(jìn)行選擇，儀器開機(jī)默認(rèn)0.2μs，再按“脈寬”鍵退出此項(xiàng)功能。注意：在高壓閃絡(luò)法測試中此項(xiàng)不做選擇。

X射線光譜儀的好壞常常是以X射線強(qiáng)度測量的理論統(tǒng)計(jì)誤差來表示的，BX系列波長色散X射線熒光儀的穩(wěn)定性和再現(xiàn)性，已足以保證待測樣品測量的精度，被樣品的制樣技術(shù)成為影響準(zhǔn)確度的至關(guān)重要的因素，在樣品制備方面所花的工夫?qū)从吃诮Y(jié)果的質(zhì)量上。X射線熒光儀器誤差的來源主要有以下幾個方面：1.采樣誤差：非均質(zhì)材料樣品的代表性2.樣品的制備：制樣技術(shù)的穩(wěn)定性產(chǎn)生均勻樣品的技術(shù)3.不適當(dāng)?shù)臉?biāo)樣：待測樣品是否在標(biāo)樣的組成范圍內(nèi)標(biāo)樣元素測定值的準(zhǔn)確度標(biāo)樣與樣品的穩(wěn)定性4.儀器誤差：計(jì)數(shù)的統(tǒng)計(jì)誤差樣品的位置靈敏度和漂移重現(xiàn)性5.不適當(dāng)?shù)亩繑?shù)學(xué)模型：不正確的算法元素間的干擾效應(yīng)未經(jīng)校正顆粒效應(yīng)純物質(zhì)的熒光強(qiáng)度隨顆粒的減小而增大，在多元素體系中，已經(jīng)證明一些元素的強(qiáng)度與吸收和增應(yīng)有關(guān)，這些效應(yīng)可以引起某些元素的強(qiáng)度增加和另一些元素的強(qiáng)度減小。