HN300電纜故障測試儀 電纜故障測試儀 HN300系列 高壓電橋故障測試儀（儀）現(xiàn)貨供應(yīng)

 用于35kV及以下不同等級、不同截面、不同介質(zhì)及材質(zhì)的電力電纜的各類故障，包括：開路、短路、低阻、高阻泄漏、高阻閃絡(luò)性故障。可配合高壓設(shè)備實現(xiàn)傳統(tǒng)電纜故障測試的低壓脈沖法、沖擊閃絡(luò)法、速度測量法。 全中文操作軟件和使用界面，子菜單方式和文字提示實現(xiàn)人機(jī)互動。工業(yè)級10.4寸彩色觸摸液晶屏顯示，全中文操作軟件和使用界面，子菜單方式和文字提示實現(xiàn)人機(jī)互動。事實上，物聯(lián)網(wǎng)的設(shè)備可以分為三種。無需移動性，大數(shù)據(jù)量（上行），需較寬頻段，比如小區(qū)監(jiān)控；2.移動性強(qiáng)，需執(zhí)行頻繁切換，小數(shù)據(jù)量，比如車隊追蹤管理；3.無需移動性，小數(shù)據(jù)量，對時延不敏感，比如智能抄表。NB-IoT優(yōu)勢特點NB-IoT就是針對種應(yīng)用場合而設(shè)計的，其主要優(yōu)勢十分明顯。強(qiáng)鏈接：在同一的情況下，NB-IoT可以比現(xiàn)有無線技術(shù)提供50-100倍的接入數(shù)。一個扇區(qū)能夠支持10萬個連接，支持低延時敏感度、超低的設(shè)備成本、低設(shè)備功耗和優(yōu)化的網(wǎng)絡(luò)架構(gòu)。

技術(shù)參數(shù)

1. 采樣方法：低壓脈沖法、沖擊閃絡(luò)法、速度測量法

2. 采樣速率：200 MHz、100 MHz、80 MHz、40 MHz、20MHz、10 MHz

3. 脈沖寬度：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs

4. 波速設(shè)置：交聯(lián)、聚氯、油浸紙、不滴油和未知類型自設(shè)定

5. 沖擊高壓：35kV及以下

6. 測試距離：＜60km，盲區(qū)≤1m

7. 分 辨 率：1m

8. 測試精度：1m

9. 顯示方式：工業(yè)級10.4寸彩色觸摸液晶屏

傳統(tǒng)電源需要兩臺直流源分別提供相反方向的電流配合控制兩臺電源分別輸出的控制回路來滿足實驗要求。解決方案IT6432雙極性可編程電源可以實現(xiàn)正負(fù)電壓輸出，從而實現(xiàn)電流方向周期性改變。用一臺it6432即可以完成該實驗。操作方法利用list功能編輯3V/.5A1s和-3V/.5A5s兩工步，客戶該實驗需要1~2周時間，設(shè)定好循環(huán)次數(shù)（65535次），既可以提供周期性改變電流方向的電流脈沖信號，輕松的完成該實驗?zāi)康摹?/span>

 四、工作原理

       本產(chǎn)品采用的是時域反射（TDR）原理，即對電纜發(fā)射一電脈沖，電脈沖將在電纜中勻速傳輸，當(dāng)遇到電纜阻抗發(fā)生變化的地方（故障點），電脈沖將產(chǎn)生反射。測距主機(jī)將電脈沖的發(fā)射和反射的變化以時域形式通過液晶屏顯示出來，通過屏幕上的波形可直接判讀故障距離。

① 開關(guān)按鍵：按下自鎖接通電源，再按解鎖斷開電源。開機(jī)2分鐘無任何操作時，屏幕將變暗進(jìn)入屏保節(jié)能狀態(tài)。比如，高輸入阻抗比低輸入阻抗易受干擾，模擬電路比數(shù)字電路易受干擾，無隔離設(shè)計的設(shè)備比有隔離設(shè)計的設(shè)備易受干擾。如果我們使用功率儀測試的時候遇到了干擾要這么辦？常見的抗干擾技術(shù)有以下幾種，在使用功率儀測試遇到干擾時，也主要按照一下思路來解決異常。干擾比較大時，可以考慮使用同軸電纜類的性能較好的測試線。濾波選擇合適的濾波裝置，或者在設(shè)備上設(shè)置合適的濾波條件。接地接地技術(shù)相對比較復(fù)雜，但是無論在強(qiáng)電系統(tǒng)還是弱電系統(tǒng)中，接地都是一種比較好的干擾的技術(shù)。

② 充電端口：用于連接充電器，給電池充電。

③ 中值旋鈕：順時針旋動中值向上走動；逆時針旋動中值向下走動。（需采樣刷新才有變化）大；逆時針旋動幅度減小。（需采樣刷新才有變化）

⑤ 采樣端口：四芯座，用于連接采樣線。如何可靠地校準(zhǔn)這些校準(zhǔn)器，保證可靠地量值溯源性，是一項技術(shù)性很強(qiáng)的工作。目前國內(nèi)各有些校準(zhǔn)實驗室在校準(zhǔn)這些校準(zhǔn)器的工作中，還存在一些問題。有時候，其校準(zhǔn)不確定度并不能滿足技術(shù)要求。本文對這些問題做了，并提出了解決方法。存在的問題校準(zhǔn)儀器時，有一個基本的要求，就是要求被校儀器的不確定度遠(yuǎn)大于校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)的不確定度。它們之間的比率稱為不確定度比率TUR。一般要求TUR至少大于4:1或者3:1。達(dá)到要求，可以開展校準(zhǔn)或檢定；達(dá)不到要求，只能進(jìn)行儀器間的比對測量。

⑥ 觸摸式彩色液晶屏：詳見“工作界面介紹”。

按“       ”鍵，彈出采樣方式選擇子菜單。子菜單中包括：“低壓脈沖”、“閃絡(luò)方法”和“速度測量”。儀器開機(jī)默認(rèn)“低壓脈沖”，根據(jù)測試需要，可選擇相應(yīng)的采樣方式，再按“采樣方式”鍵退出。

按“       ”鍵，彈出脈沖寬度選擇子菜單。子菜單中包括7個選項，分別為：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs。根據(jù)測試距離選擇合適的脈寬，按對應(yīng)的子菜單鍵可以對脈沖寬度進(jìn)行選擇，儀器開機(jī)默認(rèn)0.2μs，再按“脈寬”鍵退出此項功能。注意：在高壓閃絡(luò)法測試中此項不做選擇。

PID（PotentianInducedDegradation）是一種電勢誘導(dǎo)衰減現(xiàn)象，是指組件長期在高電壓下使得玻璃，封裝材料之間存在漏電流，大量電荷聚集在電池表面。使得電池表面的鈍化效果惡化，導(dǎo)致填充因子（FF），短路電流（Isc），開路電壓（Voc）降低，使得組件的性能低于設(shè)計標(biāo)準(zhǔn)，發(fā)電能力也隨之下降。2010年，NREL和Solon證實了無論組件采取何種技術(shù)的P型晶硅電池，組件在負(fù)偏壓下都有PID的風(fēng)險。