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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:單體蓄電池充放電測試儀 HN1016B 直流系統(tǒng)綜合測試儀定制定做

  • 產(chǎn)品型號:HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗(yàn),電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用于開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。單體蓄電池充放電測試儀 HN1016B 直流系統(tǒng)綜合測試儀定制定做
詳情介紹:

HN1015A蓄電池充放電,活化測試儀 單體蓄電池充放電測試儀 HN1016B 直流系統(tǒng)綜合測試儀定制定做

單體蓄電池充放電測試儀 HN1016B 直流系統(tǒng)綜合測試儀定制定做

本儀器是針對整組蓄電池系列測試,不同規(guī)格型號對整組要求不同,具體根據(jù)儀表為準(zhǔn)。單體電池電壓為2V\12V(根據(jù)具體指標(biāo)定)的鉛酸蓄電池組進(jìn)行測試的儀器。

測試步驟介紹傳統(tǒng)的解決方案是加TVS管,但它有比較大的體積和相對高的重量等缺點(diǎn)。那么ADI是怎么解決的呢?Lorry解答到:“我們考慮SurgeStopper,通過反饋和MOSFET控制把瞬間脈沖的干擾電源尖峰部分消掉,確保輸出電壓在我們設(shè)定的標(biāo)準(zhǔn)范圍之內(nèi),車身系統(tǒng)系統(tǒng)會(huì)更加**。再結(jié)合可控的電源工藝,車身系統(tǒng)就不會(huì)因?yàn)橐馔獾母蓴_造成組件損壞?!保嚎商娲鶷VS和絲的浪涌器方案。激光雷達(dá)、普通雷達(dá)、相關(guān)測量測控單元是未來自動(dòng)駕駛非常核心和關(guān)鍵的平臺(tái)。

1.4.1在線監(jiān)測測試:

步:連接單體電壓采集器。(詳見章節(jié)2.4)

步:把整組電壓測試線連接到電池組兩端。(詳見章節(jié)2.5)

步:插入電源,主機(jī)開機(jī)。

第四步:進(jìn)入在線監(jiān)測參數(shù)設(shè)置。(詳見章節(jié)3.1)

第五步:“確定”開始測試。

1.4.2 放電測試:單體蓄電池充放電測試儀 HN1016B 直流系統(tǒng)綜合測試儀定制定做在本文中,我們將回顧以前發(fā)布的技術(shù),這些技術(shù)通過偏移LO頻率并以數(shù)字方式補(bǔ)償此偏移,強(qiáng)制雜散信號去相關(guān)。已知雜散去相關(guān)方法在相控陣中,用于強(qiáng)制雜散去相關(guān)的方法問世已有些時(shí)日。已知的份文獻(xiàn)1可以追溯到2002年,該文描述了用于確保接收器雜散不相關(guān)的一種通用方法。在這種方法中,先以已知方式,修改從接收器到接收器的信號。然后,接收器的非線性分量使信號失真。在接收器輸出端,將剛才在接收器中引入的修改反轉(zhuǎn)。

步:連接單體電壓采集器(詳見章節(jié)2.4)。純負(fù)載不具此功能

步:放電開關(guān),撥到分的位置(防止放電電纜反接,損壞儀器;反接告警提示)。

步:把放電線一端連到主機(jī),另一端連到電池組兩端。(注意紅正黑負(fù))。接反會(huì)告警提示。(詳見章節(jié)2.5)

第四步:把整組電壓測試線連接到電池組2端。

第五步:插入電源(電池組供電不用接AC220V電源,直接將放電開關(guān)撥到合的位置),主機(jī)開機(jī)。

第六步:進(jìn)入放電參數(shù)設(shè)置。(詳見章節(jié)3.2)

第七步:將放電開關(guān)撥到合的位置(電池組供電省略此步驟)。

第八步:“確定”開始測試。

1.4.3容量快測(選配功能)單體蓄電池充放電測試儀 HN1016B 直流系統(tǒng)綜合測試儀定制定做半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓制造,晶圓測試,芯片封裝和封裝后測試組成,晶圓制造和芯片封裝討論較多,而測試環(huán)節(jié)的相關(guān)知識經(jīng)常被邊緣化,下面集中介紹集成電路芯片測試的相關(guān)內(nèi)容,主要集中在WAT,CP和FT三個(gè)環(huán)節(jié)。集成電路設(shè)計(jì)、制造、封裝流程示意圖WAT(WaferAcceptanceTest)測試,也叫PCM(ProcessControlMonitoring),對Wafer劃片槽(ScribeLine)測試鍵(TestKey)的測試,通過電性參數(shù)來監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定,CMOS的電容,電阻,Contact,metalLine等,一般在wafer完成制程前,是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據(jù),測試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上,ProbeCard另一端接在WAT測試機(jī)臺(tái)上,由WATRecipe自動(dòng)控制測試位置和內(nèi)容,測完某條TestKey后,ProbeCard會(huì)自動(dòng)移到下一條TestKey,直到整片Wafer測試完成。

步:連接單體電壓采集器(詳見章節(jié)2.4)。

步:放電開關(guān),撥到分的位置(防止放電電纜反接,損壞儀器;反接告警提示)。

步:把放電線一端連到主機(jī),另一端連到電池組兩端。(注意紅正黑負(fù))。接反會(huì)告警提示。(詳見章節(jié)2.5)

第四步:把整組電壓測試線連接到電池組2端。

第五步:插入電源,主機(jī)開機(jī)。

第六步:進(jìn)入容量快測參數(shù)設(shè)置。(詳見章節(jié)3.3)

第七步:將放電開關(guān)撥到合的位置。

第八步:“確定”開始測試。今天為大家介紹一項(xiàng)授權(quán)——一種應(yīng)用在電能表中RTC模塊的補(bǔ)償校準(zhǔn)方法及裝置。該由電網(wǎng)公司申請,并于2018年8月31日獲得授權(quán)公告。本涉及電力儀器儀表技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種應(yīng)用在電能表中RTC(Real-TimeClock,實(shí)時(shí)時(shí)鐘)模塊的補(bǔ)償校準(zhǔn)方法及裝置。對于大多數(shù)對時(shí)間度要求較高的系統(tǒng)來說,RTC模塊式的實(shí)時(shí)時(shí)鐘生成模塊,它可以為芯片提供地實(shí)時(shí)時(shí)鐘。RTC模塊一般會(huì)外掛晶體,根據(jù)晶體的固有振蕩頻率輸出時(shí)鐘信號,其結(jié)構(gòu)比較簡單,成本較低。單體蓄電池充放電測試儀 HN1016B 直流系統(tǒng)綜合測試儀定制定做單體蓄電池充放電測試儀 HN1016B 直流系統(tǒng)綜合測試儀定制定做

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