HN1015A蓄電池充放電，活化測試儀 整組蓄電池放電測試儀 HN1016B 直流系統(tǒng)綜合測試儀試驗方法

本儀器是針對整組蓄電池系列測試，不同規(guī)格型號對整組要求不同，具體根據(jù)儀表為準。單體電池電壓為2V\12V（根據(jù)具體指標定）的鉛酸蓄電池組進行測試的儀器。

測試步驟介紹是全實物測試，將待測裝備置于演習或?qū)嶋H戰(zhàn)區(qū)，利用實際存在的復(fù)雜電磁環(huán)境對裝備性能進行測試。此種方式具說服力，通常作為成熟型號裝備的終測試方法。因為此方式成本極高、風險大，很多場合是破壞性測試，并且所得到測試結(jié)果不具備遍歷性，無法滿足裝備研制過程中的絕大多數(shù)的常規(guī)測試需求。種是基于計算機、數(shù)據(jù)庫等技術(shù)的全數(shù)字仿真測試。這種技術(shù)是通過數(shù)據(jù)采集或者數(shù)學建模的方式，將實際電磁環(huán)境的主要特征信息以數(shù)字格式存儲于數(shù)據(jù)庫中，在某種特定仿真算法的驅(qū)動下，對待測裝備的性能進行全數(shù)字仿真測試。

1.4.1在線監(jiān)測測試：

步：連接單體電壓采集器。（詳見章節(jié)2.4）

步：把整組電壓測試線連接到電池組兩端。（詳見章節(jié)2.5）

步：插入電源，主機開機。

第四步：進入在線監(jiān)測參數(shù)設(shè)置。(詳見章節(jié)3.1）

第五步：“確定”開始測試。

1.4.2 放電測試：有沒有一個曝光時間能夠**涵蓋一個場景的溫度變化，并測量該場景的所有冷熱物體？沒有，但有另一個選項。解決方案：FLIR超幀技術(shù)FLIR超幀技術(shù)指的是，在一個快速的連續(xù)時間內(nèi)，以逐漸加快的曝光時間拍攝一組4幅具有代表性的場景圖像（子幀），然后重復(fù)這個循環(huán)。每次循環(huán)的子幀被合并為一個超幀，如我們所知，這個超幀結(jié)合了曝光時間不同的4個子幀的特性。這一過程稱為疊加。采用這種方式，疊加算法生成的超幀圖像對比度高，溫度范圍廣。

步：連接單體電壓采集器（詳見章節(jié)2.4）。純負載不具此功能

步：放電開關(guān)，撥到分的位置(防止放電電纜反接，損壞儀器；反接告警提示)。

步：把放電線一端連到主機，另一端連到電池組兩端。（注意紅正黑負）。接反會告警提示。（詳見章節(jié)2.5）

第四步：把整組電壓測試線連接到電池組2端。

第五步：插入電源(電池組供電不用接AC220V電源，直接將放電開關(guān)撥到合的位置)，主機開機。

第六步：進入放電參數(shù)設(shè)置。(詳見章節(jié)3.2）

第七步：將放電開關(guān)撥到合的位置（電池組供電省略此步驟）。

第八步：“確定”開始測試。

1.4.3容量快測（選配功能）1靜態(tài)電流的測試一定電壓下，讓IC處于無負載，無震蕩狀態(tài)，將電流表的一端接電源的正極，另一端接IC的VDD腳，電流表的讀數(shù)極為IC的靜態(tài)電流。2驅(qū)動電流的測試一定電壓下，將IC的負載用可調(diào)電阻代替，讓IC正常工作，當輸出口有輸出時，調(diào)節(jié)可調(diào)電阻的阻值，使IC輸出端的電平滿足測試要求。以上測試需求，根據(jù)電壓規(guī)格要求，精度要求，合適的直流電源，如IT64雙極性電源；IT61高速高精度電源；其中IT64雙極性電源高至na級別的精度，既作為供電電源，又可以測試靜態(tài)電流。

步：連接單體電壓采集器（詳見章節(jié)2.4）。

步：放電開關(guān)，撥到分的位置(防止放電電纜反接，損壞儀器；反接告警提示)。

步：把放電線一端連到主機，另一端連到電池組兩端。（注意紅正黑負）。接反會告警提示。（詳見章節(jié)2.5）

第四步：把整組電壓測試線連接到電池組2端。

第五步：插入電源，主機開機。

第六步：進入容量快測參數(shù)設(shè)置。(詳見章節(jié)3.3）

第七步：將放電開關(guān)撥到合的位置。

第八步：“確定”開始測試。因為探測器口的位置及擋板的設(shè)置是固定的，而不同的反射分布直接表現(xiàn)為信號起伏。在普通的測量系統(tǒng)中，不同的正向發(fā)散角的LE同一LED不同的放置方向、同一方向不同位置等差異，即使光通量是一致，表現(xiàn)出來的測量值也表現(xiàn)出的差。根據(jù)客戶的驗證結(jié)果，普通LED測量系統(tǒng)LED的放置方向?qū)馔繙y量結(jié)果的影響往往超過50%(這一點尤其在國產(chǎn)設(shè)備上表現(xiàn)特別明顯)。在測量不同LED不同發(fā)光角度時，由于在積分球內(nèi)表面的分布差異使得直接反射的分布對探測器的影響也不同，從而直接影響到兩者測量的準確性的差異。整組蓄電池放電測試儀 HN1016B 直流系統(tǒng)綜合測試儀試驗方法