HNXZ-270kva/70kv調(diào)頻式串聯(lián)諧振耐壓裝置 (規(guī)格廠家選定)
串聯(lián)諧振耐壓試驗裝置 HNNY 超低頻高壓發(fā)生器

一、產(chǎn)品概述

該裝置主要針對電纜，電機等及其系統(tǒng)的交流耐壓試驗設(shè)計制造。電抗器采用多只分開設(shè)計，既可滿足高電壓、小電流的設(shè)備試驗條件要求的耐壓設(shè)備。

2、主要功能及其技術(shù)特點：

裝置具有過壓、過流、零位啟動、系統(tǒng)失諧（閃落）等保護功能，過壓過流保護值可以根據(jù)用戶需要整定，試品閃落時閃落保護動作并能記下閃落電壓值，以供試驗。

自動掃頻時頻率起點可以在規(guī)定范圍內(nèi)任意設(shè)定，掃頻方向可以向上、向下選擇，同時彩色液晶大屏幕顯示掃描諧振、升壓、記時曲線方便使用者直觀了解是否找到諧振點。

具有省電、性能穩(wěn)定、體積小、承載能力大，比一般電磁繼電器性能優(yōu)越的特點。根據(jù)繼電器的型號不同，可以是交流電壓，也可以是直流電壓。下面我們主要介紹一款需要直流電壓供電的磁保持繼電器的測試方法。磁保持繼電器內(nèi)部圖1.IT64系列LIST功能IT64系列是四象限電源，具有l(wèi)ist功能，可按照程序所編的電壓電流值輸出。單通道輸出功率15W，電壓可達±6V，電流±1A，雙極性雙范圍輸出。LIST功能實測案例以下是測試要求：磁保持繼電器的老化測試，就是重復(fù)讓產(chǎn)品斷開和閉合，進行老化測試。脈沖波形：+4.5V,5msV,5ms-4.5V,5msV,5ms測試磁保持繼電器的吸合電壓和釋放電壓。一般采用步進增大或者減小電壓值的方法去測試。電壓上升階梯波形：1V為初始值，.1V,1ms進行升壓，直至產(chǎn)品動作;再以-1V為初始值，-.1V,1ms進行升壓，直至產(chǎn)品動作。

二、技術(shù)參數(shù)

1、-指生產(chǎn)廠家代碼

210kVA指設(shè)備能輸出的額定容量，單位為kVA

70kV指設(shè)備能輸出的電壓等級，單位為kV；（電壓值根據(jù)具體需要）

2、技術(shù)指標

（1）額定電壓：

70kV---滿足10kV電纜的交流耐壓試驗；

（2）輸出電壓波形畸變率：<1.0％

（3）允許連續(xù)工作時間：額定條件下一次性工作30分鐘，在對電纜耐壓時，滿足連續(xù)工作60分鐘

（4）裝置自身品質(zhì)因數(shù)：Q>50

（5）電纜試驗時滿負荷下品質(zhì)因數(shù)：Q>30（與負載相關(guān)）

（6）輸入電源：單相380V/220V

（7）頻率調(diào)節(jié)范圍：30Hz～300Hz

（8）系統(tǒng)測量精度：1.5％

（9）裝置具有過壓、過流、零位啟動等保護功能

3、技術(shù)參數(shù)

（1）電源控制箱 1臺

額定功率：4.5kW；

輸入電壓：單相 380V/220V±15%  50Hz

輸出電壓：0～400V可調(diào)

輸出電壓頻率：30～300Hz  

0.1Hz步進可調(diào) 

頻率不穩(wěn)定度≤0.02%

輸出電流：0～11.25A

（2）電抗器 3臺

額定工作電壓：25kV

額定工作電流：1A

額定電感量：100H

連續(xù)工作時間：60分鐘

溫    升：小于60度

工作頻率：30~300Hz

（3）勵磁變壓器 1臺

額定容量：4.5kVA

輸入電壓：400V/200V

輸出電壓：1kV/3kV

輸出電流：4.5A/1.5A

 TestCenter實現(xiàn)了對測試資源、測試程序、測試數(shù)據(jù)以及測試計劃的無縫集成和統(tǒng)一部署，這將幫助您完成對自己的測試系統(tǒng)軟件從設(shè)計開發(fā)到執(zhí)行的掌控。TestCenter為測試系統(tǒng)軟件的開發(fā)、執(zhí)行與管理提供了一個靈活而強大的基礎(chǔ)框架。使用TestCenter軟件平臺開發(fā)測試系統(tǒng)軟件，您可以快速獲得執(zhí)行流程控制、報表生成、數(shù)據(jù)庫存儲等功能。TestCenter的強大功能將您的計算機轉(zhuǎn)變成為一個測試工作站，是您進行測試系統(tǒng)軟件開發(fā)的得力工具。

（4）電容分壓器-50kV

電容量：1000pF

額定電壓:70kV

工作頻率：30～300HZ再簡單一點，就是考慮更好的散熱吧。功率管發(fā)熱功率管的功耗分成兩部分，開關(guān)損耗和導通損耗。要注意，大多數(shù)場合特別是LED市電驅(qū)動應(yīng)用，開關(guān)損害要遠大于導通損耗。開關(guān)損耗與功率管的cgd和cgs以及芯片的驅(qū)動能力和工作頻率有關(guān)，所以要解決功率管的發(fā)熱可以從以下幾個方面解決：不能片面根據(jù)導通電阻大小來選擇MOS功率管，因為內(nèi)阻越小，cgs和cgd電容越大。如1N60的cgs為250pF左右，2N60的cgs為350pF左右，5N60的cgs為1200pF左右，差別太大了，選擇功率管時，夠用就可以了。對電信而言，對于語音互操作，由于LTE和CDMA電路域沒有互操作關(guān)系，語音方案初期可考慮SVLTE(單卡雙待機)方式，終端支持語音和數(shù)據(jù)并發(fā)，未來考慮適時引入VoLTE方式承接語音業(yè)務(wù)。對于數(shù)據(jù)業(yè)務(wù)，HRPD現(xiàn)網(wǎng)可升級至eHRPD，采用非優(yōu)化切換方式保證LTE與eHRPD數(shù)據(jù)業(yè)務(wù)連續(xù)。面對即將到來的LTE商用普及，為保證的用戶體驗，運營商的LTE測試一方面需要加強模擬各類終端業(yè)務(wù)在不同場景下的邊緣切換，使實際網(wǎng)絡(luò)中的多模終端盡可能地駐留在LTE網(wǎng)絡(luò)。

（5）測試線及附件 1套