HNXZ-270kva/70kv調(diào)頻式串聯(lián)諧振耐壓裝置 (規(guī)格廠家選定)
交流耐壓試驗裝置 HNNY 全自動試驗變壓器

一、產(chǎn)品概述

該裝置主要針對電纜，電機等及其系統(tǒng)的交流耐壓試驗設(shè)計制造。電抗器采用多只分開設(shè)計，既可滿足高電壓、小電流的設(shè)備試驗條件要求的耐壓設(shè)備。

2、主要功能及其技術(shù)特點：

裝置具有過壓、過流、零位啟動、系統(tǒng)失諧（閃落）等保護功能，過壓過流保護值可以根據(jù)用戶需要整定，試品閃落時閃落保護動作并能記下閃落電壓值，以供試驗。

自動掃頻時頻率起點可以在規(guī)定范圍內(nèi)任意設(shè)定，掃頻方向可以向上、向下選擇，同時彩色液晶大屏幕顯示掃描諧振、升壓、記時曲線方便使用者直觀了解是否找到諧振點。

當今的設(shè)計對為其上電的系統(tǒng)提出了更高的要求。您可能會發(fā)現(xiàn)，很多的設(shè)計問題是由電源系統(tǒng)引起的。為進一步提升您的電源使用技能，本期在期的基礎(chǔ)上又增加了四種技巧。技巧1為低功耗設(shè)備供電很多設(shè)備都是為使用低電壓、低電流而設(shè)計的。如果功率過高，這些低功率設(shè)備很容易受到損壞。避免電源損壞的方法是使用專為低功率應(yīng)用而設(shè)計的電源。對于更高功率的電源，即便其的OCP(過流保護)值也可能還是不夠低。就以受歡迎的120W臺式電源為例，它的OCP值也是限制到100mA或更高。

二、技術(shù)參數(shù)

1、-指生產(chǎn)廠家代碼

210kVA指設(shè)備能輸出的額定容量，單位為kVA

70kV指設(shè)備能輸出的電壓等級，單位為kV；（電壓值根據(jù)具體需要）

2、技術(shù)指標

（1）額定電壓：

70kV---滿足10kV電纜的交流耐壓試驗；

（2）輸出電壓波形畸變率：<1.0％

（3）允許連續(xù)工作時間：額定條件下一次性工作30分鐘，在對電纜耐壓時，滿足連續(xù)工作60分鐘

（4）裝置自身品質(zhì)因數(shù)：Q>50

（5）電纜試驗時滿負荷下品質(zhì)因數(shù)：Q>30（與負載相關(guān)）

（6）輸入電源：單相380V/220V

（7）頻率調(diào)節(jié)范圍：30Hz～300Hz

（8）系統(tǒng)測量精度：1.5％

（9）裝置具有過壓、過流、零位啟動等保護功能

3、技術(shù)參數(shù)

（1）電源控制箱 1臺

額定功率：4.5kW；

輸入電壓：單相 380V/220V±15%  50Hz

輸出電壓：0～400V可調(diào)

輸出電壓頻率：30～300Hz  

0.1Hz步進可調(diào) 

頻率不穩(wěn)定度≤0.02%

輸出電流：0～11.25A

（2）電抗器 3臺

額定工作電壓：25kV

額定工作電流：1A

額定電感量：100H

連續(xù)工作時間：60分鐘

溫    升：小于60度

工作頻率：30~300Hz

（3）勵磁變壓器 1臺

額定容量：4.5kVA

輸入電壓：400V/200V

輸出電壓：1kV/3kV

輸出電流：4.5A/1.5A

 在這種采樣率和分辨率下，可以看到許多波形細節(jié)。利用峰值檢測和長記錄長度捕獲多個脈沖.利用峰值檢測和長記錄長度捕獲多個脈沖對于這個信號，脈沖間隔超過6.5毫秒。為了獲得與相同的采樣率的信號，時間窗口擴展了5萬倍，通過增加時間/分割和記錄長度來捕獲更多的連續(xù)脈沖。(峰值檢測采集也被用來使窄脈沖更明顯。)如所示，這將占用產(chǎn)品的整個標準記錄長度。然而在20毫秒的采集中只捕獲了3個3.25納秒的脈沖。在這種情況下，只有0.00005%的捕獲是我們測試需要的。

（4）電容分壓器-50kV

電容量：1000pF

額定電壓:70kV

工作頻率：30～300HZ可在惡劣天氣下使用。堅固耐用、全天候應(yīng)用。設(shè)計緊湊、易于使用。選擇32×24或64×48熱分辨率；選擇的分辨率越高，圖像細節(jié)和距離性能更優(yōu)。mm到1mm的可更換鏡頭。紅外夜視儀讓您能夠在漆黑的環(huán)境下看清物體。高達2倍，4倍的電子變焦讓您能夠獲得更多細節(jié)信息。捕獲靜態(tài)圖像和。電子變焦4倍電子變焦產(chǎn)品圖例可切換鏡頭應(yīng)用領(lǐng)域人員和搜救組織難以組織難以在漆黑環(huán)境中或惡劣天氣下尋找失蹤人員。PID（PotentianInducedDegradation）是一種電勢誘導(dǎo)衰減現(xiàn)象，是指組件長期在高電壓下使得玻璃，封裝材料之間存在漏電流，大量電荷聚集在電池表面。使得電池表面的鈍化效果惡化，導(dǎo)致填充因子（FF），短路電流（Isc），開路電壓（Voc）降低，使得組件的性能低于設(shè)計標準，發(fā)電能力也隨之下降。2010年，NREL和Solon證實了無論組件采取何種技術(shù)的P型晶硅電池，組件在負偏壓下都有PID的風險。

（5）測試線及附件 1套