青島華能供應(yīng) 互感器校驗(yàn)裝置 生產(chǎn)廠家HN10A互感器特性綜合測(cè)試儀

HN12A變頻式互感器綜合儀（CT/PT儀）

測(cè)量校核型號(hào)的CT、PT，包括保護(hù)CT、計(jì)量CT、TP級(jí)暫態(tài)CT、勵(lì)磁飽和電壓達(dá)到40KV的CT、變壓器套管CT、各電壓級(jí)PT等. 點(diǎn)電壓/電流、10%(5%)誤差曲線、準(zhǔn)確限值系數(shù)、儀表保安系數(shù)、二次時(shí)間常數(shù)、剩磁系數(shù)、準(zhǔn)確級(jí)、飽和和不飽和電感等CT、PT參數(shù)的測(cè)量.分體式空調(diào)器使用的遙控器上一般設(shè)有高、中和低三檔風(fēng)速供選擇?？梢朗覂?nèi)的溫度要求，通過(guò)調(diào)節(jié)空調(diào)器的風(fēng)速檔來(lái)達(dá)到調(diào)節(jié)制冷或制熱的目的?？照{(diào)停機(jī)原因：空調(diào)器無(wú)論由于何種原因而停機(jī)(如突然斷電、人為停機(jī)等)，由于一般空調(diào)器均設(shè)有停機(jī)的時(shí)間延遲器(延遲時(shí)間約3min)，這時(shí)這類空調(diào)器停機(jī)后雖可馬上開(kāi)機(jī)，但需過(guò)3min后才能運(yùn)轉(zhuǎn)。但對(duì)無(wú)時(shí)間延遲器的空調(diào)器，停機(jī)后不能立即開(kāi)機(jī)，務(wù)約3min，才能重新開(kāi)啟空調(diào)器，否則可能造成啟動(dòng)電流過(guò)大，燒毀熔絲，甚至燒毀壓縮機(jī)電機(jī)的后果。

自動(dòng)給出點(diǎn)電壓/電流、 10％誤差曲線、 5％誤差曲線、準(zhǔn)確限值系數(shù)（ALF）、 儀表保安系數(shù)（FS）、 二次時(shí)間常數(shù)(Ts)、剩磁系數(shù)(Kr)、準(zhǔn)確級(jí)、飽和和不飽和電感等參數(shù)。使用CANScope測(cè)量CAN總線信號(hào)，在干擾很嚴(yán)重的情況下會(huì)出現(xiàn)CAN總線波形與CAN報(bào)文不一致的情況，具體表現(xiàn)為某些正確報(bào)文對(duì)應(yīng)的波形卻是錯(cuò)誤的，或者收到的錯(cuò)誤報(bào)文對(duì)應(yīng)的波形卻是正確的，如中，幀ID為0721的正確報(bào)文對(duì)應(yīng)的波形卻為CRC錯(cuò)誤。本文將對(duì)這種現(xiàn)象產(chǎn)生的原因及其存在的意義進(jìn)行詳細(xì)的說(shuō)明。.報(bào)文與波形不一致差異錯(cuò)誤的主要原因CANScope對(duì)CAN信號(hào)的處理包含2部分：報(bào)文處理部分和波形處理部分。

具體接線步驟和說(shuō)明如下：

斷開(kāi)電力線與CT一次側(cè)的連接，未接地的電力線較長(zhǎng)，會(huì)給CT一次側(cè)的測(cè)量引入較大干擾，參見(jiàn)圖3.4。

將CT一次側(cè)一端連接至CTPT儀CT一次側(cè)/PT二次側(cè)黑色端子將CT一次側(cè)另一端連接至CTPT儀CT一次側(cè)/PT二次側(cè)紅色端子將CTPT儀的接地柱連接到保護(hù)地PE將按照?qǐng)D3.3所示，斷開(kāi)被測(cè)CT二次側(cè)和二次負(fù)荷的連接在對(duì)變比值相同的多繞組電流互感器進(jìn)行CT或CT比差角差測(cè)試時(shí)，沒(méi)有測(cè)試的二次繞組應(yīng)短接，否則測(cè)試誤差將會(huì)偏大保護(hù)10P10，紅外攝像機(jī)因?yàn)闊o(wú)損檢測(cè)使用的紅外攝像機(jī)要以高靈敏度捕捉瞬變現(xiàn)象，因此需要有高時(shí)間分辨率的高幀速率。每個(gè)像素的空間分辨率由與紅外攝像機(jī)一起使用的透鏡所決定的空間分辨率視角決定，如要檢測(cè)大型目標(biāo)和精細(xì)區(qū)域，要使用高像素的紅外攝像機(jī)。2.光激發(fā)無(wú)損檢測(cè)-光學(xué)增強(qiáng)方法的基本原理為光激發(fā)無(wú)損檢測(cè)裝置概圖。該方法分為所示的脈沖熱成像和所示的鎖相熱成像兩種。-脈沖熱成像的基本原理脈沖熱成像方法通過(guò)瞬間燈光激發(fā)使測(cè)量對(duì)象出現(xiàn)溫度上升,在溫度下降的過(guò)程中，通過(guò)圖像顯示正常位置和缺陷位置出現(xiàn)的溫度變化和時(shí)間相位滯后。暫態(tài)TPY三個(gè)繞組的2000/1的CT，進(jìn)行0.5級(jí)繞組的比差角差測(cè)量時(shí)應(yīng)按照?qǐng)D3半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓制造，晶圓測(cè)試，芯片封裝和封裝后測(cè)試組成，晶圓制造和芯片封裝討論較多，而測(cè)試環(huán)節(jié)的相關(guān)知識(shí)經(jīng)常被邊緣化，下面集中介紹集成電路芯片測(cè)試的相關(guān)內(nèi)容，主要集中在WAT，CP和FT三個(gè)環(huán)節(jié)。集成電路設(shè)計(jì)、制造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測(cè)試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對(duì)Wafer劃片槽（ScribeLine）測(cè)試鍵（TestKey）的測(cè)試，通過(guò)電性參數(shù)來(lái)監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測(cè)廠的依據(jù)，測(cè)試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測(cè)試機(jī)臺(tái)上，由WATRecipe自動(dòng)控制測(cè)試位置和內(nèi)容，測(cè)完某條TestKey后，ProbeCard會(huì)自動(dòng)移到下一條TestKey，直到整片Wafer測(cè)試完成。.4.1進(jìn)行接線具體接線步驟和說(shuō)明如下：將CTPT儀的接地柱連接到保護(hù)地PE將按照?qǐng)D3.6所示，斷開(kāi)PT二次側(cè)和二次回路的連接將CTPT儀功率輸出和CT二次側(cè)/PT一次側(cè)的黑色端子連接至二次負(fù)荷的一端，參見(jiàn)圖3.6將CTPT功率輸出和CT二次側(cè)/PT一次側(cè)的紅色端子連接至二次負(fù)荷的另一端為了消除接觸電阻的影響，在連接CTPT儀的端子時(shí)，CT二次側(cè)/PT一次側(cè)的連接端子應(yīng)保持在功率輸出端子的內(nèi)側(cè)使用usb接口時(shí)，如果軟件里找不到對(duì)應(yīng)的端口，在設(shè)備管理器中更新com口的驅(qū)動(dòng)程序即可。LAN:將通訊方式調(diào)為L(zhǎng)AN口，設(shè)置IP地址，網(wǎng)關(guān)，子網(wǎng)掩碼（其中，IP地址需和連接的PC機(jī)不相同，只需要后一位不同，如電腦ip地址為192.168.4.196，那么儀器上的IP地址設(shè)置為192.168.4.xxx，網(wǎng)關(guān)和子網(wǎng)掩碼必須要一致。），其次，需要ping通儀器。打開(kāi)電腦的運(yùn)行，輸入cmd，進(jìn)入配置菜單，輸入ipconfig按下enter之后，再次確認(rèn)一下IP地址，網(wǎng)關(guān)，子網(wǎng)掩碼，接著，輸入ping儀器IP地址如ping192.168.4.1。青島華能供應(yīng) 互感器校驗(yàn)裝置 生產(chǎn)廠家