HNWDL-8000溫升三相大電流發(fā)生器 青島華能專業(yè)定制 溫升試驗(yàn)設(shè)備 定制定做

又稱：大電流溫升試驗(yàn)設(shè)備，大電流溫升試驗(yàn)系統(tǒng)，大電流溫升試驗(yàn)裝置

功能簡(jiǎn)介：

     HNWDL-10000溫升三相大電流發(fā)生器主要用于母線槽，開關(guān)，開關(guān)柜和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。

功能特點(diǎn)：

1）內(nèi)置高配置工控機(jī)，采用可編程控制器西門子S730PLC作為中心處理器，對(duì)交流信號(hào)進(jìn)行實(shí)時(shí)掃描,實(shí)現(xiàn)監(jiān)測(cè)和閉環(huán)控制，并設(shè)計(jì)設(shè)置管理，只有獲得相應(yīng)操作權(quán)限的人員，才能進(jìn)行某些功能的操作。從特性來說，PCA82C250/251在高速波特率下過沖很嚴(yán)重，在進(jìn)行CE認(rèn)證時(shí)通不過認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)，而TJA1040/1050的電磁輻射就小的多，可以通過CE認(rèn)證。因?yàn)槭澜缟螩AN的需求量增大，TI公司、Freescale公司、美信公司、Microhip公司紛紛推出了自己的高速CAN。本文對(duì)NXP的新舊兩類，以及SN65HVD251(TI公司生產(chǎn))和MC33901(Freescale公司生產(chǎn))進(jìn)行對(duì)比測(cè)試。

2）進(jìn)口PC機(jī)15英寸真彩大液晶觸摸工業(yè)平板電腦操作，采用支持現(xiàn)場(chǎng)總線技術(shù)的智能型傳感器，實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)傳送的全數(shù)字化，顯示操作單元選用了觸摸式彩色液晶顯示屏，全中文菜單，界面清晰直觀，操作簡(jiǎn)單方便。測(cè)試無需外接任何輔助設(shè)備，全自動(dòng)控制，式操作，快捷、簡(jiǎn)單、方便

3）本儀器測(cè)試方法有全自動(dòng)測(cè)試與手動(dòng)測(cè)試兩種方法，只需設(shè)置簡(jiǎn)單的試驗(yàn)電流與時(shí)間即可。帶有自動(dòng)穩(wěn)流系統(tǒng)，配有4個(gè)USB口，輕松U盤、打印機(jī)等多種設(shè)備。并以通過鼠標(biāo)接口直接操作。提供RS232和RS485兩種通訊接口選擇，可與后臺(tái)計(jì)算機(jī)連接，通過RS232接口可以直接與電腦PC機(jī)通訊，可以打印曲線，提供電腦通訊軟件；實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)和溫度曲線打?。贿h(yuǎn)端無法接收到數(shù)據(jù)——地電勢(shì)差存在許多實(shí)際應(yīng)用中，通信距離可達(dá)幾千米，節(jié)點(diǎn)之間的距離很遠(yuǎn)。設(shè)計(jì)者常常直接將每個(gè)節(jié)點(diǎn)的參考地接于本地的大地，作為信號(hào)的返回地，看似正?？煽康淖龇?，卻存在的隱患。即使調(diào)試正常的系統(tǒng)，也可能在使用一段時(shí)間后出現(xiàn)問題。常常被忽略的問題是：兩個(gè)節(jié)點(diǎn)之間大地也可能存在很大的電勢(shì)差。。。實(shí)際的大地并不是理想的“0”電位，大地也是導(dǎo)體，也存在阻抗。當(dāng)大的電流流過大地時(shí)，流過電流的大地兩端也會(huì)存在電勢(shì)差。

4）只需設(shè)置好目標(biāo)電流即可，無需人工監(jiān)控，僅需設(shè)定測(cè)試、電流和步長(zhǎng)，省去手動(dòng)調(diào)壓、人工記錄、描繪曲線等煩瑣勞動(dòng)，減小勞動(dòng)強(qiáng)度，提高工作效率也可工作結(jié)束后把數(shù)據(jù)讀到電腦上查看即可。

5）有超過限定值自動(dòng)報(bào)功能具有可靠的過熱、過流、過壓及短路自我保護(hù)功能。交流調(diào)壓裝置保護(hù)應(yīng)采用微機(jī)自動(dòng)保護(hù)控制和機(jī)械微動(dòng)限位開關(guān)雙重保護(hù)，確保恒流電源正常工作，提高產(chǎn)品的**性、可靠性。

且檢測(cè)精度，工作穩(wěn)定性和使用壽命都有很高的要求，因此直插式氧很難采用傳統(tǒng)氧化鋯氧的整體氧化鋯管狀結(jié)構(gòu)，而多采取技術(shù)要求較高的氧化鋯和氧化鋁管連接的結(jié)構(gòu)。密封性能是這種氧化鋯氧的關(guān)鍵技術(shù)之一。目前上進(jìn)的連接方式，是將氧化鋯與氧化鋁管的焊接在一起，其密封性能，與采樣式檢測(cè)方式比，直插式檢測(cè)有顯而易見的優(yōu)點(diǎn)：氧化鋯直接接觸氣體，檢測(cè)精度高，反應(yīng)速度快，維護(hù)量較小。當(dāng)測(cè)量煙氣溫度高于700℃時(shí)，傳感器組成中省去加熱器和測(cè)溫?zé)犭娕肌?img alt="青島華能專業(yè)定制 溫升試驗(yàn)設(shè)備 定制定做" src="https://y1.yzimgs.com/uploads//20210907-15102046.jpg">

主要技術(shù)指標(biāo)：電流值由客戶根據(jù)需要確定

型號(hào)		HNWDL-8000A
大輸出電流		交流單相8000A  3組
電路方式		電動(dòng)柱式調(diào)壓器
交流輸入	相線	3Φ4W +G
	電壓	380V±10%，50Hz±2%三相四線
	輸入電流	834A
輸出	相線	1Φ2W +G
	開路電壓	0-20V自動(dòng)轉(zhuǎn)換
	電流	AC  0-8000A連續(xù)可調(diào)   準(zhǔn)度：0.5
	穩(wěn)流準(zhǔn)度	輸出電流≤±0.2%
	輸出端子	接線端子
	保護(hù)	電子電路快速偵測(cè)過電壓、過電流、過高溫自動(dòng)跳脫保護(hù)及告裝置 非測(cè)試狀態(tài)電壓為零，電流為零

青島華能專業(yè)定制 溫升試驗(yàn)設(shè)備 定制定做半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓制造，晶圓測(cè)試，芯片封裝和封裝后測(cè)試組成，晶圓制造和芯片封裝討論較多，而測(cè)試環(huán)節(jié)的相關(guān)知識(shí)經(jīng)常被邊緣化，下面集中介紹集成電路芯片測(cè)試的相關(guān)內(nèi)容，主要集中在WAT，CP和FT三個(gè)環(huán)節(jié)。集成電路設(shè)計(jì)、制造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測(cè)試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對(duì)Wafer劃片槽（ScribeLine）測(cè)試鍵（TestKey）的測(cè)試，通過電性參數(shù)來監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測(cè)廠的依據(jù)，測(cè)試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測(cè)試機(jī)臺(tái)上，由WATRecipe自動(dòng)控制測(cè)試位置和內(nèi)容，測(cè)完某條TestKey后，ProbeCard會(huì)自動(dòng)移到下一條TestKey，直到整片Wafer測(cè)試完成。