HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗系統(tǒng) 青島華能生產(chǎn)三路配電箱溫升試驗裝置 廠家直供 

用于箱變,配電箱額定電流溫升試驗。溫升試驗裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗標(biāo)準(zhǔn)對開關(guān)柜進(jìn)行試驗的要求。半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓制造，晶圓測試，芯片封裝和封裝后測試組成，晶圓制造和芯片封裝討論較多，而測試環(huán)節(jié)的相關(guān)知識經(jīng)常被邊緣化，下面集中介紹集成電路芯片測試的相關(guān)內(nèi)容，主要集中在WAT，CP和FT三個環(huán)節(jié)。集成電路設(shè)計、制造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對Wafer劃片槽（ScribeLine）測試鍵（TestKey）的測試，通過電性參數(shù)來監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據(jù)，測試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測試機臺上，由WATRecipe自動控制測試位置和內(nèi)容，測完某條TestKey后，ProbeCard會自動移到下一條TestKey，直到整片Wafer測試完成。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC范圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負(fù)載被試開關(guān)柜及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時間應(yīng)滿足工作時間要求）

輸出波形：標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時間：大電流輸出不少于24小時

輸出相數(shù)：三相  多路

兩種額定電流的解釋1.HeatingCurrent功率電感在DC-DC電路中，電流經(jīng)過時，會消耗一定的功率（銅耗Copperloss+磁耗Coreloss），消耗功率會導(dǎo)致電感的溫度上升，電感一般工作溫度有一定范圍，比如WE的電感允許的operatingtemperature:-40°C-+125°C，ambienttemperature:-40°C-+85°C。為了電感可以在一定的溫度范圍內(nèi)正常工作，電感廠商會給出一個"基于電感溫度上升的額定電流"即HeatingCurrent，這個參數(shù)的限定值是根據(jù)電流在電感上的熱效應(yīng)定義的，在大部分公司的電感的手冊里，以Idc（直流電流）來表示這個電流。

具備供電電源三相輸入電壓、輸入電流顯示功能

具備試驗過程記錄功能（持續(xù)記錄輸出電壓、輸出電流相關(guān)數(shù)據(jù)）

具備試驗結(jié)果自動計算功能

具備傳輸后編輯報告生成功能

具備全自動測試與手動測試兩種方法，全自動測試時只需簡單設(shè)置試驗電流、時間、記錄步長即可，帶自動穩(wěn)流系統(tǒng)。系統(tǒng)跟蹤目標(biāo)電流，自動調(diào)整、平衡三相輸出電壓、電流，并可自動記錄電流、電壓數(shù)據(jù)，。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）