HN-100L回路電阻測試儀青島華能生產接觸電阻測試儀 原理用途

公司根據IEC標準及新電力執(zhí)行標準DL/T845.4- 2004有關規(guī)定，發(fā)揮自身技術優(yōu)勢，精心研制的高精度、數字化開關檢測儀器。該儀器采用高頻大功率恒流開關電源技術，可測得微歐姆級接觸電阻。廣泛適用于開關及電器的接觸電阻、回路電阻及電纜電線、焊縫接觸電阻的測量

二、 技術指標

測量范圍： 測量范圍：0—20000.00μΩ 

分辨率： 0.01μΩ

測量準確度： ±（讀數×0.2%+0.01μΩ）

試驗電源： 恒流限壓，約1.5V

試驗電流： 直流，50/100A/200A/600A可選

試驗電流精度： ±0.2%

測量時間： 快速、10~60秒可選

測量次數： >500次（充滿電，快速測量模式備選功能）

半導體生產流程由晶圓制造，晶圓測試，芯片封裝和封裝后測試組成，晶圓制造和芯片封裝討論較多，而測試環(huán)節(jié)的相關知識經常被邊緣化，下面集中介紹集成電路芯片測試的相關內容，主要集中在WAT，CP和FT三個環(huán)節(jié)。集成電路設計、制造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對Wafer劃片槽（ScribeLine）測試鍵（TestKey）的測試，通過電性參數來監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據，測試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測試機臺上，由WATRecipe自動控制測試位置和內容，測完某條TestKey后，ProbeCard會自動移到下一條TestKey，直到整片Wafer測試完成。

工作方式:連續(xù)測量

工作電源:AC220V±10%  50HZ

三、 儀器操作功能介紹

1、 電源開關：“I”按下儀器開始供電，“O”按下關斷儀器電源

2、 AC220V ：儀器供電源輸入端，本儀器采用交流220V供電

3、 I₊、 I- ：為電流輸出端子，通過測試線為試品提供恒定電流

4、 V₊、V-  ：為試品電壓信號的輸入端子

5、 液   晶 ：采用320X240真彩色液晶，強光下字體也可清晰觀察，顯示操 作設置，測試結果，接觸電阻值和輸出電流值

6、RS232：    串口輸出端

7、復 位 鍵 ：整機初始化，儀器處在準備狀態(tài)

8、選 擇 鍵 ：按下此鍵，選擇儀器各項設置，測量結束可打印數據

9、循 環(huán) 鍵 ：主菜單循環(huán)選擇鍵或U盤存儲

9、確 認 鍵 ：按下確認鍵儀器開始啟動電流進行測試

為保障電梯**運行，提高電梯動態(tài)監(jiān)管和信息化水平，目前有關部門及電梯制造企業(yè)都逐漸要求電梯配備遠程監(jiān)控系統(tǒng)。該系統(tǒng)通過安裝在電梯轎頂、機房的傳感器，采集電梯故障和維保信息，并通過GPRS傳輸設備將數據傳輸到電梯運行管理平臺。GPRSDTU在電梯物聯(lián)網中的應用信息化管理滯后電梯故障頻出近年來，隨著城市建設的不斷發(fā)展，電梯數量也同步增長，但是一些問題也漸漸顯露出來：維修保養(yǎng)不到位，電梯經常出現故障。

按循環(huán)鍵光標可在參數設置、數據查詢、時鐘修改、測量時間、選擇電流之間循環(huán)移動，光標在參數設置、數據查詢、時鐘修改時按選擇鍵可進入選中菜單的下菜單，光標在測量時間項按選擇鍵時間可在脈沖、30秒、1分鐘、5分鐘、10分鐘、連續(xù)之間循環(huán)移動，任何時候按啟動鍵可進入測量狀態(tài)，

六、 測量方法 

注意：測試鉗的連接面應與試品可靠接觸，若發(fā)現接觸面有氧化現象，應去除接觸面的氧化層。

1、接線方法：如圖二所示，將測試線按照顏色紅對紅，黑對黑，粗的電流線接到對應的I+、I-接線柱扭緊，細的電源線插入到V+、V-的插座內，兩把夾鉗夾住被測試品的兩端。

2、測量：接圖二完成接線后，打開電源開關，選擇好測試時間進行測試，儀器會自動完成充電、穩(wěn)流和電阻測量。

反射系數法是通過測量漏蘭姆波的頻散曲線來確定材料的性質,但測量難度較大。傅里葉變換只能處理線性非平穩(wěn)的信號。小波變換法雖然在理論上能處理非線性非平穩(wěn)信號,但是同傅里葉變換、短時傅里葉變換法一樣,都受Heisenberg測不準原理制約,即時間窗口與頻率窗口的乘積為一個常數,這就意味著如果要提高時間精度就得犧牲頻率精度,反之亦然。當蘭姆波中不同模態(tài)的頻率比較接近時,不適用小波變換處理信號。動態(tài)光彈法能從Lamb波的應力分布觀察到傳播和頻散,但是在實際檢測中對硬件要求較高。